閃存的低溫下低工作電壓Vcc讀取失效分析.pdf

1、受益于消費(fèi)電子產(chǎn)品的需求及設(shè)備等的普及，F(xiàn)lash閃存已取代RAM(隨機(jī)存儲(chǔ)器)成為存儲(chǔ)器家族中最主要的力量，三星、英特爾、Spansion等半導(dǎo)體廠商也成為最大的受益者為了提高競爭力，各大半導(dǎo)體廠商都會(huì)盡一切努力進(jìn)行新技術(shù)的研發(fā)，開發(fā)出高速度、大容量、高可靠性以及低功耗、低成本的產(chǎn)品成為各個(gè)廠商的共同目標(biāo)。而各個(gè)廠家在市場(chǎng)的占有程度，決定與各自的綜合勢(shì)力的競爭性。如何擁有、保持市場(chǎng)的競爭力是每一個(gè)半導(dǎo)體生產(chǎn)廠家所不可避免的問題與挑戰(zhàn)。

2、除了產(chǎn)品的更新?lián)Q代的節(jié)奏加快之外，如何降低成本、減小損耗與不良品也同樣是很重要的一個(gè)方面。在款式的新穎、功能的多樣化之外，產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性是一般用戶的首選點(diǎn)。所以，閃存的高、低溫時(shí)的使用與工作情況同樣是不可避免的面臨考驗(yàn)與挑戰(zhàn)。 本課題主要針對(duì)NOR閃存在低溫下的工作情況進(jìn)行研究討論，通過對(duì)產(chǎn)品在低溫、低工作電壓下閃存進(jìn)行可靠性測(cè)試分析，通過完成失效的產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)收集分析和處理，發(fā)掘閃存的失效機(jī)理，研究并尋求解決閃存的故障