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1、本文主要針對(duì)現(xiàn)有的原子力顯微鏡的電學(xué)部分進(jìn)行了更新和升級(jí),并結(jié)合單片機(jī)技術(shù)和虛擬儀器技術(shù)及其微弱信號(hào)檢測(cè)理論在檢測(cè)系統(tǒng)方面進(jìn)行了認(rèn)真研究。不僅完成了儀器的升級(jí),同時(shí)基于原子力顯微鏡的檢測(cè)技術(shù)開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)了一套納米器件電信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)。這不僅僅為儀器拓展了一項(xiàng)新的功能更重要的是為以后設(shè)計(jì)納米測(cè)量系統(tǒng)提供了較高的起點(diǎn)并積累一定經(jīng)驗(yàn)。 本文共分成七章,首先對(duì)論文的研究背景和涉及到的納米材料的測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了討論,并對(duì)比了國(guó)內(nèi)外的最新發(fā)展?fàn)顩r。
2、 第二章對(duì)原子力顯微鏡的原理及其系統(tǒng)結(jié)構(gòu)進(jìn)行了論述,最重要的給出了具體的改進(jìn)方案。 第三章中,主要對(duì)微弱信號(hào)和它的檢測(cè)方法以及數(shù)據(jù)采集知識(shí)做了理論分析,為以后的設(shè)計(jì)做了鋪墊。 第四章是全文的重點(diǎn),開(kāi)始先介紹系統(tǒng)硬件整體結(jié)構(gòu),而后分別描述各個(gè)部分,對(duì)于設(shè)計(jì)中使用的PIC型單片機(jī)進(jìn)行了詳細(xì)的討論,并對(duì)原理圖進(jìn)行相應(yīng)分析,在PCB設(shè)計(jì)中總結(jié)了制版經(jīng)驗(yàn),給出了硬件電路控制程序流程圖。完成了系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和Ⅰ-Ⅴ檢測(cè)功能的實(shí)現(xiàn)
3、。 第五章的主要內(nèi)容是應(yīng)用軟件的設(shè)計(jì),由于采用了虛擬儀器技術(shù),首先介紹了相關(guān)的背景知識(shí),而后著重討論虛擬儀器的結(jié)構(gòu)和應(yīng)用軟件設(shè)計(jì)原則,并根據(jù)系統(tǒng)工作過(guò)程設(shè)計(jì)了程序中相應(yīng)的各個(gè)部分。實(shí)現(xiàn)了采集數(shù)據(jù)的顯示和處理。 為了驗(yàn)證系統(tǒng)的功能,在第六章中做了必要的實(shí)驗(yàn),并對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行了理論分析,從而證明系統(tǒng)已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了設(shè)計(jì)目的,另外對(duì)實(shí)驗(yàn)室另一個(gè)納米器件測(cè)試平臺(tái)一皮安表微弱信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了軟件上的開(kāi)發(fā),并對(duì)測(cè)試系統(tǒng)做了調(diào)試實(shí)驗(yàn),從而
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