基于良率最大化的SOC測試程序開發(fā).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、集成電路發(fā)展到今天的SoC時(shí)代，遇到最為棘手的問題是SoC芯片的可測性問題和測試良率問題。而沒有高測試良率的產(chǎn)品是沒有競爭力的。如何有效及時(shí)地開發(fā)出良率最大化的測試程序逐漸成為測試業(yè)界最關(guān)心的問題之一。本課題主要研究基于SoC測試程序的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，其目的是開發(fā)出一款具有高良率的測試程序用于高性能高集成的DVD刻錄功能SoC的測試。從硬、軟件兩方面，深入研究了提高測試良率的測試方法和調(diào)試技術(shù)。本文介紹了一般提高測試程序良率的方法，提出并著

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