數(shù)?；旌想娐返臏y試與故障診斷的研究.pdf

1、隨著數(shù)?；旌闲盘栯娐返陌l(fā)展,使數(shù)?；旌闲盘栯娐返墓收蠙z測與診斷面臨極大的挑戰(zhàn).由于目前的方法主要是針對數(shù)字或模擬電路進行單獨測試和診斷,并不能有效的處理日益復雜的電路結構,因此對數(shù)?；旌想娐窚y試和診斷的研究具有重要的實際意義.本文運用離散事件系統(tǒng)理論來進行數(shù)?；旌想娐返墓收蠝y試和診斷,它的應用主要體現(xiàn)在以下幾方面:(1)檢驗電路的可測試性;(2)計算最小測試集;(3)找出電路的可測試度.本文分別對以上三個方面做了深入的討論.本文的主要工

2、作及取得的成果如下: ●建立基于離散事件系統(tǒng)理論的故障診斷的數(shù)學模型,進行電路可測試性的分析以及求解故障隔離率等.闡明了利用離散事件系統(tǒng)理論進行數(shù)模混合電路的可測試性和故障診斷的可行性. ●在混合電路測試和故障診斷中,最小測試集的求取是重點和難點.針對該問題,本文在深入研究粗糙集理論的基礎上,提出了利用區(qū)分矩陣和區(qū)分函數(shù)來提取最小測試集的約簡算法,試驗結果表明該算法在保證故障覆蓋率的前提下,能夠有效的優(yōu)化測試向量.