混響室條件下小尺寸屏蔽殼體電磁耦合作用規(guī)律的研究.pdf

1、小尺寸（<2m）屏蔽殼體的屏蔽效能（ShieldingEffectiveness，簡稱SE）是電磁兼容領域中重要的研究內容。絕大部分通訊儀器、電子器件、航空和電子測量儀器都屬于小尺寸屏蔽殼體，但國際上仍沒有相應的小尺寸屏蔽殼體屏蔽效能測試標準。 由于傳統(tǒng)的SE定義存在眾多缺陷，導致這種定義不能真實反映復雜電磁環(huán)境下屏蔽殼體的屏蔽效能?；祉懯覝y試方法采用平均功率（或平均場強）進行測量，為描述各向同性復雜電磁環(huán)境下殼體的屏蔽效能找到

2、了一種新的標準方法。因此，在混響室條件下小尺寸屏蔽殼體的SE基礎理論和測量方法也成為了一個迫切需要研究的熱點問題。 本文利用強電磁場環(huán)境模擬與效應防護技術國防重點實驗室的大型模式攪拌式混響室產(chǎn)生各向同性和統(tǒng)計均勻的復雜電磁環(huán)境，對小尺寸屏蔽殼體在該環(huán)境下的耦合規(guī)律作了實驗與仿真研究。 在實驗研究中，采用多點平均和單點平均兩種方法對不同頻率（從100MHz～1GHz）、屏蔽體孔縫的形狀、面積等因素對殼體內平均場強的大小以及

3、屏蔽殼體屏蔽效能的影響做了對比研究。其次，討論了多點平均與單點平均兩種測試方法的重復性。最后，對混響室內標準場的測試方法做了研究。 除了實驗研究之外，本文還進行了相應的仿真研究對實驗結果進行了相關驗證。在仿真研究中，利用基于矩量法的大型電磁仿真軟件FEKO，借鑒國外相關研究經(jīng)驗，采用多列平面波疊加的方法來模擬混響室內的復雜電磁環(huán)境。在此基礎上，對取樣點方式、平面波入射極化方向、電磁波頻率、屏蔽體孔縫形狀、面積等因素對殼體屏蔽效能