偽裝記憶損害的神經(jīng)發(fā)生機(jī)制的功能磁共振與行為學(xué)研究.pdf

1、詐病是指故意模仿或夸大軀體的﹑精神的或其他方面的障礙或不足，其目的通常是為了得到利益或避免懲罰。有目的的詐病是一種普遍的社會(huì)現(xiàn)象，偽裝記憶損害就是詐病的一種常見類型。功能磁共振成像技術(shù)（functionalMagneticResonanceImaging，fMRI）近年來被用于探索偽裝記憶損害的神經(jīng)機(jī)制及其腦區(qū)定位，以此為偽裝記憶損害的甄別提供依據(jù)。既往fMRI研究發(fā)現(xiàn)，與誠(chéng)實(shí)相比，偽裝記憶損害詐病明顯激活前額葉-頂葉-皮層下結(jié)構(gòu)(尾狀

2、核及后扣帶回)環(huán)路，并且這一環(huán)路的激活較為穩(wěn)定，不受刺激材料、性別、母語(yǔ)的影響。但既往研究?jī)H比較偽裝記憶損害與誠(chéng)實(shí)二者，本研究對(duì)四種任務(wù)條件下（誠(chéng)實(shí)回答、錯(cuò)誤回答、隨意回答、模擬偽裝記憶損害）的被試進(jìn)行fMRI研究，對(duì)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及數(shù)據(jù)處理進(jìn)行優(yōu)化，并進(jìn)一步對(duì)不同難度任務(wù)的偽裝記憶損害詐病的fMRI數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。
　　12名汕頭大學(xué)醫(yī)學(xué)院在讀研究生作為本實(shí)驗(yàn)的被試（男8名，女4名）。實(shí)驗(yàn)任務(wù)采用兩項(xiàng)必選數(shù)字記憶測(cè)試。目標(biāo)數(shù)字及干擾數(shù)字

3、均采用5位數(shù)阿拉伯?dāng)?shù)字。要求被試在四個(gè)條件下完成不同難度的兩項(xiàng)必選測(cè)試：正確回答，錯(cuò)誤回答，隨意回答，模擬偽裝記憶損害。實(shí)驗(yàn)過程如下：首先呈現(xiàn)一個(gè)五位數(shù)字（持續(xù)３秒），緊接著呈現(xiàn)“＋”（１秒），之后同時(shí)呈現(xiàn)目標(biāo)數(shù)字及干擾數(shù)字（5秒），最后對(duì)被試的反應(yīng)作出反饋（正確／錯(cuò)誤／無反應(yīng)），反饋持續(xù)１秒，給與反饋是為了得到心理強(qiáng)化的作用。在實(shí)驗(yàn)中引入獎(jiǎng)懲制度，在實(shí)驗(yàn)前與被試簽訂協(xié)議，內(nèi)容為：“如被試能成功地偽裝記憶損害，通過機(jī)器的檢測(cè)，則給予20

4、0元人民幣獎(jiǎng)勵(lì)”。實(shí)驗(yàn)前得到汕頭大學(xué)醫(yī)學(xué)院倫理委員會(huì)的通過，所有被試均簽訂書面的知情同意書。
　　本研究結(jié)果顯示：（1）有6個(gè)腦區(qū)，包括左側(cè)前額葉、左側(cè)顳上回、右側(cè)中央后回、右側(cè)頂上小葉、右側(cè)枕上回及右側(cè)基底節(jié)，在不同任務(wù)條件下表現(xiàn)出激活差異；（2）與隨意回答相比較，偽裝記憶損害明顯激活右側(cè)頂上小葉、右側(cè)中央后回、右側(cè)枕上回及右側(cè)基底節(jié)；（3）與錯(cuò)誤回答相比較，偽裝記憶損害明顯激活左側(cè)前額葉及右側(cè)基底節(jié)；錯(cuò)誤回答則明顯激活左側(cè)顳上