偽裝長(zhǎng)時(shí)記憶損害的神經(jīng)機(jī)制研究.pdf

1、目的
　　 偽裝記憶損害是精神司法鑒定實(shí)踐中的常見現(xiàn)象。目前對(duì)人類偽裝記憶損害相關(guān)的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和神經(jīng)發(fā)生機(jī)制進(jìn)行的系列研究發(fā)現(xiàn)：偽裝工作記憶損害存在額-頂-皮質(zhì)下回路，并且這一激活模式不受刺激材料類型、性別及母語(yǔ)的影響，具有高度的一致性和普遍性。
　　 而神經(jīng)影像學(xué)方面關(guān)于記憶神經(jīng)機(jī)制的研究認(rèn)為不同類型的記憶存在功能重疊又各具獨(dú)特性。因而偽裝不同類型的記憶損害是共有一個(gè)神經(jīng)回路還是各具獨(dú)特性呢？基于這一問題，本課題旨在研究

2、偽裝長(zhǎng)時(shí)記憶損害的神經(jīng)通路，并比較其與偽裝工作記憶損害的異同；探索偽裝記憶損害的一般神經(jīng)機(jī)制。
　　 方法
　　 本研究采用兩項(xiàng)必選詞語(yǔ)記憶測(cè)驗(yàn)?zāi)Ｊ?，運(yùn)用大腦功能磁共振掃描技術(shù)（fMRI），以12例大學(xué)生健康志愿者（男女各半）作為實(shí)驗(yàn)研究對(duì)象（右利手、數(shù)字廣度≥7），設(shè)立長(zhǎng)時(shí)記憶（實(shí)驗(yàn)1）和工作記憶（實(shí)驗(yàn)2）兩種情境，在掃描的同時(shí)分別進(jìn)行誠(chéng)實(shí)回答、隨機(jī)回答和偽裝回答三種任務(wù)，記錄反應(yīng)時(shí)等行為學(xué)數(shù)據(jù)及影像學(xué)數(shù)據(jù)，掃描完成后

3、記錄受試者在隨機(jī)回答及偽裝回答時(shí)采用的策略。
　　 結(jié)果
　　 實(shí)驗(yàn)1
　　 1．行為學(xué)數(shù)據(jù)表明：偽裝回答的反應(yīng)時(shí)明顯長(zhǎng)于誠(chéng)實(shí)回答和隨機(jī)回答（p<0.01）；
　　 隨機(jī)回答的反應(yīng)時(shí)明顯短于誠(chéng)實(shí)回答和偽裝回答（p<0.05）。與誠(chéng)實(shí)回答比，偽裝回答和隨機(jī)回答的正確率顯著下降（p<0.01）；而偽裝回答和隨機(jī)回答之間比較差異無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（p＞0.05）。
　　 2．影像學(xué)數(shù)據(jù)表明：誠(chéng)實(shí)回答時(shí)右角回、

4、右緣上回、左頂下小葉、左扣帶前回、左枕下回、左眶額下回及小腦激活。以誠(chéng)實(shí)回答為“基線”，偽裝回答時(shí)發(fā)現(xiàn)更多的左額葉激活；隨機(jī)回答未發(fā)現(xiàn)明顯激活區(qū)域。以隨機(jī)回答為“基線”，誠(chéng)實(shí)回答與偽裝回答均未發(fā)現(xiàn)明顯激活區(qū)域。以偽裝回答為“基線”，誠(chéng)實(shí)回答未發(fā)現(xiàn)明顯激活；隨機(jī)回答則有兩側(cè)扣帶回中部顯著激活。
　　 實(shí)驗(yàn)2
　　 1．行為學(xué)數(shù)據(jù)：偽裝回答的反應(yīng)時(shí)明顯長(zhǎng)于誠(chéng)實(shí)回答和隨機(jī)回答（p<0.01）；誠(chéng)實(shí)回答和隨機(jī)回答的反應(yīng)時(shí)無(wú)明顯差

5、異（p＞0.05）。與誠(chéng)實(shí)回答比，偽裝回答和隨機(jī)回答的正確率顯著下降（p<0.01）；與隨機(jī)回答比，偽裝回答的正確率下降，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P<0.05）。
　　 2．影像學(xué)數(shù)據(jù)：誠(chéng)實(shí)回答時(shí)右輔助運(yùn)動(dòng)區(qū)、額上回、顳下回及海馬、左小腦、額內(nèi)側(cè)回及枕下回、以及雙側(cè)頂下小葉激活。與誠(chéng)實(shí)回答比，偽裝回答時(shí)有更多的右扣帶前回、左楔前葉、左額上回、小腦及雙側(cè)梭狀回區(qū)域激活；隨機(jī)回答時(shí)左中央后回和右中央前回的兩個(gè)體素群激活增多。與偽裝回答比，

6、誠(chéng)實(shí)回答未發(fā)現(xiàn)明顯激活腦區(qū)；隨機(jī)回答時(shí)右額上回、左頂下小葉和左中央后回激活顯著增多。
　　 結(jié)論
　　 1. 偽裝長(zhǎng)時(shí)記憶損害主要激活左額前皮質(zhì)，包括左額上回和左額內(nèi)側(cè)回；偽裝工作記憶損害存在額-頂-皮質(zhì)下回路。
　　 2. 偽裝長(zhǎng)時(shí)記憶損害和偽裝工作記憶損害存在不同的神經(jīng)回路，但又有某些功能重疊。推測(cè)左額上回為偽裝記憶損害的基本神經(jīng)回路。
　　 3. 隨機(jī)回答可能作為一種高明的偽裝策略，涉及復(fù)雜的認(rèn)知控