電纜半導(dǎo)電屏蔽材料雜質(zhì)析出狀況研究.pdf

1、隨著電線電纜的長期使用，首批在國內(nèi)服役的進口電纜以及80年代中國自主生產(chǎn)的電纜都到了更新?lián)Q代的時期，各種故障問題層出不窮。人們開始投入大量的人力物力研究和改進電纜的各項性能。其中水樹現(xiàn)象作為電纜故障的一大因素，引起了人們的重視?，F(xiàn)在生產(chǎn)的半導(dǎo)電屏蔽料在表面光潔度以及雜質(zhì)含量的方面都達到了一定的水平。盡管也有人去研究半導(dǎo)電屏蔽料以及絕緣層中可能存在的各種雜質(zhì)對絕緣層水樹現(xiàn)象的影響，但是還沒有具體的研究從半導(dǎo)電屏蔽料能析出哪些雜質(zhì)來。

2、 本文從電纜半導(dǎo)電屏蔽材料雜質(zhì)析出這個角度出發(fā)，通過恒溫加壓老化以及恒溫恒濕老化的方法使雜質(zhì)加速從電纜半導(dǎo)電屏蔽料中析出，通過各種測試分析手段，來檢測那些析出雜質(zhì)的成分。析出的離子主要是含Zn元素和含S元素的，還有高分子油，小分子有機物乙烯等析出。長時間在濕度高的環(huán)境下工作的半導(dǎo)電屏蔽料會滲入水分。通過恒溫恒濕加速老化的方法，利用菲克第二擴散方程得到了一個t時刻試樣中離子含量的濃度分布，這個濃度分布方程可以用來作為半導(dǎo)電屏蔽料的參數(shù)。