一個(gè)基于CNF約束的可滿(mǎn)足問(wèn)題簡(jiǎn)化的預(yù)處理解決器.pdf_第1頁(yè)
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1、隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的不斷進(jìn)步，電路的規(guī)模也不斷增大，電路驗(yàn)證和測(cè)試領(lǐng)域面臨著前所未有的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的基于模擬的驗(yàn)證方法不能滿(mǎn)足電路復(fù)雜度增大的需要，具有完備性特點(diǎn)的形式化驗(yàn)證方法開(kāi)始得到人們的關(guān)注，成為當(dāng)前的研究熱點(diǎn)。 本文研究工作是針對(duì)可滿(mǎn)足問(wèn)題(SAT)在組合電路驗(yàn)證和測(cè)試中的應(yīng)用展開(kāi)的。近些年來(lái)，作為驗(yàn)證基本問(wèn)題的可滿(mǎn)足性問(wèn)題研究取得了重大進(jìn)展，有效的SAT解決器諸如Zchaff，BerkMin和C-SAT等已可解決

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