原子力顯微鏡在材料和生命科學中的應用研究.pdf

1、掃描探針顯微鏡(scanning probe microscopy，SPM)，突破了衍射極限的限制，完全不同于傳統(tǒng)顯微鏡的概念，它采用細小到納米尺度的探針在樣品表面掃描，從而獲得樣品的超微結構的信息。本文重點討論的原子力顯微鏡(atomic force microscopy，AFM)就是SPM大家族中重要的一員。原子力顯微鏡在材料科學和生命科學領域得到了廣泛的應用。 本文基于原子力顯微鏡系統(tǒng)，對超高密度近場光存儲進行了初步的讀寫

2、實驗研究，并得到了初步實驗結果。實現(xiàn)了在Ge<,2>Sb<,2>Te<,5>薄膜上的“讀”和“寫”的過程，為今后的研究工作奠定了基礎，并提出了進一步改進的建議。 ZnO是Ⅱ-Ⅵ族半導體，具有六角形纖鋅礦結構，是一種很有前途的紫外光電器件材料。本文分別利用原子力顯微鏡和拉曼光譜儀對其表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析，兩種方法所得結論基本吻合。研究結果表明，ZnO薄膜結晶度良好，顆粒分布均勻，具有良好的c軸取向。