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1、本文對EPON系統(tǒng)MII接口的FPGA設(shè)計(jì)及其數(shù)字IC形式驗(yàn)證流程進(jìn)行了研究。文章首先介紹了形式驗(yàn)證特別是等價(jià)性驗(yàn)證技術(shù)的基本理論，并詳細(xì)介紹了等價(jià)性驗(yàn)證算法的實(shí)現(xiàn)過程。其次根據(jù)超大規(guī)模集成電路對等價(jià)性驗(yàn)證的需求，提出了適合超大規(guī)模數(shù)字IC的形式驗(yàn)證流程。然后對Formality和QuartusⅡ工具進(jìn)行了介紹，并在兩個工具之間建立了改進(jìn)的形式驗(yàn)證流程。接著在QuartusⅡ平臺上完成EPON(EthemetPassiveOptical
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