基于FPGA的IC時間參數(shù)測量單元的設(shè)計與驗證.pdf

1、我國集成電路（Integrated Circuit，IC）產(chǎn)業(yè)在“十一五”期間產(chǎn)業(yè)規(guī)模翻了一番，截止2010年市場規(guī)模已達(dá)7350億元，占全球比重的43％。IC測試是集成電路產(chǎn)業(yè)的重要環(huán)節(jié)，隨著IC集成度越來越高，對IC測試的技術(shù)水平要求越來越高，也大大提升了IC測試所需要的成本，而測試技術(shù)水平與成本關(guān)鍵體現(xiàn)在集成電路自動測試設(shè)備（Automatic Test Equipment，ATE）。本文中的IC時間參數(shù)測量單元是IC自動測試機(jī)中

2、針對IC的交流參數(shù)測量設(shè)計開發(fā)的功能模塊。
　　本文第一章介紹了課題的背景與意義。第二章首先對IC測試的基本流程與分類尤其是IC交流參數(shù)測量做了簡要介紹；緊接著分別闡述了實(shí)現(xiàn)時間數(shù)字轉(zhuǎn)換（Time-to-Digital Convert, TDC）的幾種原理及實(shí)現(xiàn)方法。
　　第三章首先介紹了IC自動測試機(jī)的系統(tǒng)架構(gòu)，然后詳細(xì)敘述了IC時間測量板（Time Measurement Unit, TMU）硬件電路的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)，包括測

3、量通道與輸入電路的設(shè)計，比較器的硬件電路搭建，比較器閾值設(shè)定與產(chǎn)生以及邏輯電平轉(zhuǎn)換。本測量板還集成了交流信號真有效值測量（RMS）單元，其原理與電路設(shè)計也會在本章闡述。
　　本文的第四章說明了如何選擇與搭建進(jìn)行時間測量的FPGA平臺，并詳細(xì)地闡述了在Xilinx Virtex-4SX中實(shí)現(xiàn)時間間隔測量和周期/脈寬測量的方法，并在最后說明提出了消除比較器抖動的方法。數(shù)據(jù)統(tǒng)計與分析將在第五章呈現(xiàn)，其結(jié)果顯示本測量板可以實(shí)現(xiàn)分辨率為2n