基于CDV的隨機(jī)測(cè)試技術(shù).pdf

1、隨著大規(guī)模集成電路的發(fā)展，其設(shè)計(jì)規(guī)模不斷增加，從幾十萬(wàn)門級(jí)發(fā)展到百萬(wàn)、千萬(wàn)門級(jí)，完成相應(yīng)的驗(yàn)證工作也變得越來(lái)越困難，給相應(yīng)的驗(yàn)證工作帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn)。如何在有限的芯片開發(fā)周期內(nèi)完成芯片的設(shè)計(jì)，并完成相應(yīng)的代碼驗(yàn)證工作是我們面臨的重要問(wèn)題。目前業(yè)界廣泛采用主要驗(yàn)證方法有斷言驗(yàn)證、形式驗(yàn)證、功能驗(yàn)證等，各種驗(yàn)證方法都在實(shí)際的工程實(shí)踐中得到廣泛的應(yīng)用。本文主要是應(yīng)用Specman E語(yǔ)言對(duì)工程項(xiàng)目中的基于功能覆蓋的驗(yàn)證。 該芯片是海思

2、光網(wǎng)絡(luò)研發(fā)管理部2006年開發(fā)的一款傳輸芯片，廣泛應(yīng)用于華為的傳輸設(shè)備，業(yè)務(wù)時(shí)鐘頻率從622MHz到2.5GHz范圍，采用IBM的90nm的CMOS工藝、規(guī)模為兩千萬(wàn)門級(jí)左右，主要處理光網(wǎng)絡(luò)的14種業(yè)務(wù)向OTU1業(yè)務(wù)的映射、解映射，同時(shí)進(jìn)行業(yè)務(wù)開銷的提取監(jiān)視和插入等工作。本人主要負(fù)責(zé)其中的兩種業(yè)務(wù)的驗(yàn)證工作。本文以其中的一種業(yè)務(wù)STM1的上行方向的驗(yàn)證為例，闡述基于功能覆蓋的隨機(jī)測(cè)試過(guò)程以及相應(yīng)驗(yàn)證環(huán)境的搭建。隨機(jī)測(cè)試過(guò)程包括featu