針對SPC的儀器評價技術研究.pdf

1、本文在結合電子元器件生產過程中，實施SPC分析控制時遇到的實際儀器評價問題，給出了破壞性儀器評價的近似條件、替代模型及更為合適的控制圖，解決了破壞性測量儀器評價的問題。主要研究內容如下： ⑴介紹了儀器評價主要的統(tǒng)計變差，并主要分析了測量系統(tǒng)的統(tǒng)計波動特性，即重復性、再現性、穩(wěn)定性、偏倚及線性，并對它們的評價方法作了較為系統(tǒng)的介紹。 ⑵在對儀器評價進行深入研究的基礎上，指出當前儀器評價控制圖及判斷規(guī)則的不當之處，根據測量數

2、據的客觀特性，給出了一種更為合適的控制圖模型及判斷規(guī)則。 ⑶結合電子元器件實際生產的SPC過程，給出破壞性儀器評價的樣本近似條件，并給出近似樣本的破壞性儀器評價方案。 ⑷在對破壞性儀器評價深入研究的基礎上，提出了用樣本替代法獲得儀器的統(tǒng)計變差，對破壞性測量的儀器進行評價。 ⑸結合SPC的具體實際實施過程，分析了儀器評價遇到的具體問題、產生這些問題的原因以及解決辦法。 ⑹在本文研究的基礎上，開發(fā)了SPC儀器