針對SPC的儀器評價(jià)技術(shù)研究.pdf

1、本文在結(jié)合電子元器件生產(chǎn)過程中，實(shí)施SPC分析控制時(shí)遇到的實(shí)際儀器評價(jià)問題，給出了破壞性儀器評價(jià)的近似條件、替代模型及更為合適的控制圖，解決了破壞性測量儀器評價(jià)的問題。主要研究內(nèi)容如下： ⑴介紹了儀器評價(jià)主要的統(tǒng)計(jì)變差，并主要分析了測量系統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)波動(dòng)特性，即重復(fù)性、再現(xiàn)性、穩(wěn)定性、偏倚及線性，并對它們的評價(jià)方法作了較為系統(tǒng)的介紹。 ⑵在對儀器評價(jià)進(jìn)行深入研究的基礎(chǔ)上，指出當(dāng)前儀器評價(jià)控制圖及判斷規(guī)則的不當(dāng)之處，根據(jù)測量數(shù)

2、據(jù)的客觀特性，給出了一種更為合適的控制圖模型及判斷規(guī)則。 ⑶結(jié)合電子元器件實(shí)際生產(chǎn)的SPC過程，給出破壞性儀器評價(jià)的樣本近似條件，并給出近似樣本的破壞性儀器評價(jià)方案。 ⑷在對破壞性儀器評價(jià)深入研究的基礎(chǔ)上，提出了用樣本替代法獲得儀器的統(tǒng)計(jì)變差，對破壞性測量的儀器進(jìn)行評價(jià)。 ⑸結(jié)合SPC的具體實(shí)際實(shí)施過程，分析了儀器評價(jià)遇到的具體問題、產(chǎn)生這些問題的原因以及解決辦法。 ⑹在本文研究的基礎(chǔ)上，開發(fā)了SPC儀器