紫外探測(cè)器讀出電路研究與設(shè)計(jì).pdf

1、現(xiàn)代的紫外探測(cè)技術(shù)是一門集光學(xué)、微機(jī)械加工、紫外探測(cè)器和集成電路于一體的高新綜合技術(shù)。因其具有虛警率低、隱蔽性高和抗電磁干擾強(qiáng)等諸多優(yōu)點(diǎn)，已成為成像技術(shù)領(lǐng)域的重要發(fā)展方向之一，在民用和軍事應(yīng)用中都有著廣闊的市場(chǎng)前景。
　　紫外焦平面探測(cè)系統(tǒng)一般由紫外探測(cè)器陣列、讀出電路和后續(xù)的信號(hào)處理電路三部分組成。讀出電路是中間一環(huán)，具有承前啟后的重要作用。作者本人在充分了解國(guó)內(nèi)外的最新研究現(xiàn)狀后，在對(duì)常規(guī)的焦平面CMOS讀出電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)分

2、析的基礎(chǔ)上，比較了各種技術(shù)的特點(diǎn)并針對(duì)紫外探測(cè)的特性，在電路結(jié)構(gòu)上提出了一些改進(jìn)，使紫外焦平面讀出電路實(shí)現(xiàn)更大的輸入動(dòng)態(tài)范圍。本文的主要工作包括以下內(nèi)容：
　　1．對(duì)焦平面讀出電路的性能參數(shù)及多種結(jié)構(gòu)形式進(jìn)行了詳細(xì)地分析與研究，并比較了各結(jié)構(gòu)之優(yōu)劣。
　　2．分別對(duì)單元讀出電路中的電容反饋跨阻放大器(CTIA)結(jié)構(gòu)、雙采樣電路以及緩沖輸出級(jí)電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)與計(jì)算機(jī)仿真。針對(duì)紫外探測(cè)器光電流小的特點(diǎn)，對(duì)焦平面讀出電路進(jìn)行了一系列