改進型March算法在內(nèi)存異常檢測中的應(yīng)用.pdf

1、隨著深亞微米VLSI技術(shù)的發(fā)展，存儲器密度的增長使存儲器的測試面臨著更大的挑戰(zhàn)。而隨著半導(dǎo)體工藝尺寸不斷縮小，存儲器可能存在的故障類型越來越多，使得測試時間和測試成本都急劇增長。因此，存儲器測試方法的研究日益受到重視。在可以接受的測試費用和測試時間的限制下，準(zhǔn)確的故障模型和有效的測試算法是至關(guān)重要的，存儲器測試算法的選擇以及測試的實現(xiàn)方法是存儲器測試的關(guān)鍵。 本文介紹了存儲器測試的應(yīng)用現(xiàn)狀，目前對于存儲器的測試方法，總結(jié)了存儲器

2、傳統(tǒng)的故障模型和內(nèi)存測試算法，詳細(xì)分析了March算法的優(yōu)勢、演變及各改進算法的特點。 雖然PC產(chǎn)品的各部件在進入電腦工廠前產(chǎn)品都有經(jīng)過測試，PC產(chǎn)品的一些主要部件在客戶使用后故障率仍然是居高不下的，因此PC產(chǎn)品的整機測試包括存儲器的測試仍然是非常必要的。而隨著存儲器容量的增大，測試時間正日益成為測試過程中不可忽視的瓶頸。 針對這一情況，本文以March測試算法為基礎(chǔ)，設(shè)計出一種改進型March算法——Narch—TBL

3、算法，該算法在故障覆蓋率不變的情況下，大大減少了測試時間。原有的March算法中很多操作步都是為了區(qū)別出不同的故障類型，而在計算機整機的產(chǎn)品測試中，對存儲器的測試要求是故障覆蓋率較高的同時測試時間盡量縮短，對于區(qū)別不同的故障則不做要求。因此可以通過縮減這一部分的測試達(dá)到優(yōu)化的目的。本文最后設(shè)計并實現(xiàn)一個基于該改進型算法的內(nèi)存檢測原型程序，對所設(shè)計的內(nèi)存檢測原型程序的結(jié)構(gòu)進行了介紹，列出了其設(shè)計和運行效果，用以驗證該算法的有效性。