基于嵌入式系統(tǒng)的新一代VLSI高溫動態(tài)老化測試平臺.pdf

1、隨著微電子技術和計算機技術的發(fā)展，微控制芯片功能越來越強大，而嵌入微控制芯片的設備和系統(tǒng)越來越多，使得嵌入式技術越來越引人注目。同時，半導體集成電路的廣泛應用使得其可靠性問題越來越突出，老化試驗作為一種能夠?qū)a(chǎn)品早期故障剔除的無損試驗技術也成為提高產(chǎn)品可靠性的重要手段?，F(xiàn)在，需要老化的集成電路越來越復雜，已有的老化系統(tǒng)已不能滿足要求。開發(fā)新一代的老化測試平臺就成了本文研究和解決的重要課題。 本設計是對原有的BTI3000N型系統(tǒng)

2、的升級換代，將嵌入式技術引入了老化測試領域，同時結合可編程ASIC技術，大大提高了系統(tǒng)的性能，簡化了編程工作，縮短了系統(tǒng)開發(fā)時間，實現(xiàn)了整個系統(tǒng)的軟硬件可配置，具有很好的通用性和擴展性，可老化各種數(shù)字、模擬器件，在該領域?qū)儆谑讋?chuàng)。 本文首先介紹了嵌入式系統(tǒng)的概念和應用以及集成電路老化技術的原理和發(fā)展，指出了國內(nèi)老化技術面臨的問題。接著介紹了平臺硬件結構的組成和操作系統(tǒng)的特點，并分析了內(nèi)核的啟動過程。最后詳細討論了針對本平臺的應用

3、程序的開發(fā)。 歸納起來，本文主要具體工作如下：1.對嵌入式系統(tǒng)和集成電路老化技術的介紹。 2.分析uClinux操作系統(tǒng)的特點，指出它與標準Linux的區(qū)別及其對應用程序開發(fā)造成的影響。 3.詳細分析內(nèi)核啟動過程，指出移植到本平臺需要做的修改。 4.利用GNU和VC6.0開發(fā)了平臺管理程序。 5.實現(xiàn)了多塊FPGA的并行配置。 6.編寫和調(diào)試了平臺主控程序，實現(xiàn)了老化RAM、DSP和FPG