玉米第5染色體苗期耐漬基因定位.pdf

1、漬害是影響玉米產(chǎn)量的重要非生物逆境之一。本研究以耐漬性差異明顯的重組自交系A(chǔ)3237及A3239為試驗(yàn)材料，運(yùn)用簡(jiǎn)化基因組測(cè)序(SLAF-Sequence)方法對(duì)兩個(gè)重組自交系進(jìn)行了分析，同時(shí)利用SNP及SSR標(biāo)記對(duì)其構(gòu)建的F2群體進(jìn)行基因型分析，結(jié)合F2:3家系耐漬表型，對(duì)耐漬QTL進(jìn)行了定位，本研究獲得的主要結(jié)果如下：
　　 1.根據(jù)SNP芯片基因型及F2:3家系的表型，利用ICImapping方法，把苗期玉米耐漬基因定位在

2、第5染色體的5.04Bin上，單個(gè)QTL解釋的表型變異在10%-30%之間。
　　 2.利用第五染色體上的12對(duì)SSR標(biāo)記構(gòu)建了新的SSR連鎖圖譜，圖譜覆蓋長(zhǎng)度為49.18cM的距離，標(biāo)記平均間距為4.1cM，利用F2:3家系的表型數(shù)據(jù)對(duì)耐漬基因進(jìn)行重定位，發(fā)現(xiàn)主效耐漬基因定位在5.04Bin上(位于umc1092和umc1221之間)，與SNP標(biāo)記定位結(jié)果吻合。
　　 3.利用簡(jiǎn)化基因組測(cè)序方法對(duì)親本A3237和A32

3、39進(jìn)行基因組簡(jiǎn)化測(cè)序，每個(gè)樣本中標(biāo)簽平均測(cè)序深度達(dá)到5倍的覆蓋度，獲得具有多態(tài)性的SLAF標(biāo)簽主要集中在第5染色體的89，000，000-179，000，000區(qū)段，此區(qū)段與利用SSR和SNP標(biāo)記定位的結(jié)果具有較高的一致性，進(jìn)一步證明在5.04Bin上存在與耐漬相關(guān)聯(lián)的基因；
　　 4.運(yùn)用BSA-SSR的方法，獲得與耐漬基因緊密連鎖的標(biāo)記為umc1221和umc2661，這兩個(gè)標(biāo)記位于QTL定位的區(qū)段之內(nèi)。
　　 本