集成電路檢測(cè)儀主控電路的設(shè)計(jì)【文獻(xiàn)綜述】

1、<p><b>　　畢業(yè)設(shè)計(jì)文獻(xiàn)綜述</b></p><p><b>　　電氣工程及其自動(dòng)化</b></p><p>　　集成電路檢測(cè)儀主控電路的設(shè)計(jì)</p><p><b>　　引 言</b></p><p>　　隨著社會(huì)的不斷發(fā)展，工業(yè)上對(duì)各種集成電路技術(shù)的運(yùn)用

2、已經(jīng)很普及，但我國(guó)當(dāng)前的集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平還遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足國(guó)民經(jīng)濟(jì)和國(guó)防建設(shè)發(fā)展的需求。我國(guó)集成電路的市場(chǎng)份額在全世界的市場(chǎng)中僅占0.33%，集成電路技術(shù)和產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，是我國(guó)信息技術(shù)和經(jīng)濟(jì)發(fā)展最需要解決的問題。隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路的設(shè)計(jì)和制造要求越來越高，集成電路的檢測(cè)也越來越復(fù)雜。集成電路的檢測(cè)技術(shù)正是制約集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要因素，制作建立完善的集成電路檢測(cè)儀器對(duì)促進(jìn)整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展具有不小的作用。對(duì)于設(shè)計(jì)完成

3、的電路，生產(chǎn)出來一定要通過檢測(cè)后才能確定為合格品，才能出廠運(yùn)用于各類電子產(chǎn)品當(dāng)中。如果產(chǎn)品沒有通過檢測(cè)，那就一定有哪方面出錯(cuò)，可能是產(chǎn)品本身的問題，也可能是檢測(cè)的方法的問題等等，如果檢測(cè)出來時(shí)合格品但使用是產(chǎn)品出現(xiàn)質(zhì)量問題的話，就需要對(duì)檢測(cè)儀器進(jìn)行檢查分析問題。由此可見，對(duì)實(shí)用可靠性強(qiáng)的集成電路檢測(cè)儀的研制還是非常有必要的。</p><p><b>　　正 文</b></p>

4、<p>　　隨著集成電路技術(shù)的普及，各種檢測(cè)分選系統(tǒng)也逐漸走入人們的視野，不同的檢測(cè)儀器都有它各自不同的優(yōu)缺點(diǎn)。以下例舉幾類常見的檢測(cè)儀器實(shí)現(xiàn)的操作系統(tǒng)：</p><p>　　使用RTX51操作系統(tǒng)控制半導(dǎo)體放電管分選機(jī)的運(yùn)行</p><p>　　RTX51是一個(gè)用于8051系列處理器的多任務(wù)實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，在許多復(fù)雜的系統(tǒng)應(yīng)用中，不但能夠及時(shí)相應(yīng)隨機(jī)發(fā)生的外部事件，并對(duì)其做出快

5、速處理，通常還需要同時(shí)執(zhí)行多個(gè)任務(wù)。在系統(tǒng)復(fù)雜、對(duì)實(shí)時(shí)性要求比較嚴(yán)格，并且需要并行處理的任務(wù)較多的運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)中，使用RTX是個(gè)較好的解決方法。[1]</p><p>　　(2)基于AVR單片機(jī)的電阻分選儀</p><p>　　使用可在線編程的AVR單片機(jī)ATmege8,它內(nèi)帶模擬比較器，I/O口可作A/D轉(zhuǎn)換用。它采用恒流源作為電源，輸出精度高，檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)，確保儀器測(cè)量精度。采用聲光指示

6、的快速分選電路，使產(chǎn)品檢測(cè)的測(cè)試速度快，勞動(dòng)強(qiáng)度低，工作效率高。采用3 2/1位LED數(shù)字顯示器使度數(shù)直觀清晰。上下限可自由設(shè)定，使用方便，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化，智能化。產(chǎn)品的性能穩(wěn)定，反應(yīng)速度快，功耗小，輸出電流恒定，適用范圍廣。[2]</p><p>　　(3)基于CCD測(cè)試的陰極套管的自動(dòng)分選機(jī)</p><p>　　陰極套管是現(xiàn)象管中的一個(gè)重要組成零件。由于由現(xiàn)有設(shè)備生產(chǎn)出的套管在全長(zhǎng)方向上

7、的公差為±0.03mm，而套管轉(zhuǎn)配時(shí)定位精度為0.02mm，由于工件尺寸小，精度要求高，人工檢測(cè)效率低。使用CCD傳感器為主的分選機(jī)對(duì)提高生產(chǎn)效率等都有很大幫助。CCD傳感器具有自動(dòng)掃描，高靈敏、低噪聲、低功率和高可靠性等優(yōu)點(diǎn)。CCD的像尺寸小，集合精度高配置適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)系統(tǒng)，可以獲得很高的空間分辨率，特別適用于各種精密圖像傳感器和無接觸工作尺寸的在線檢測(cè)。由于CCD是以時(shí)間積分方式工作的，光積分時(shí)間可以在很寬的的范圍內(nèi)調(diào)節(jié)，

8、因而使用方便靈活，適用性強(qiáng)。CCD的輸出信號(hào)易于數(shù)字化處理，容易與計(jì)算機(jī)連接組成實(shí)時(shí)自動(dòng)化測(cè)量控制系統(tǒng)。[3]</p><p>　　全自動(dòng)檢測(cè)分選編帶機(jī)</p><p>　　全自動(dòng)檢測(cè)分選編帶機(jī)是格蘭達(dá)技術(shù)（深圳）有限公司研制的一款全自動(dòng)檢測(cè)分選設(shè)備，該設(shè)備使用高速飛行抓拍檢測(cè)法，采用雙抓手智能協(xié)作的方式，兼容JEDEC托盤標(biāo)準(zhǔn)，適用于目前市場(chǎng)常見的有托盤承載的IC封裝的外觀，背面檢測(cè)

9、，入帶和編帶檢測(cè)，如QFP、SOP、QFN、BGA等，可對(duì)多種尺寸的芯片進(jìn)行生產(chǎn)，是一臺(tái)功能全、速度快、性價(jià)比高的設(shè)備。[4]</p><p>　　(5)基于SPCE061A的集成芯片檢測(cè)儀的設(shè)計(jì)</p><p>　　該設(shè)計(jì)基于凌陽(yáng)科技SPCE0661A開發(fā)板的應(yīng)用，通過軟、硬件結(jié)合的方法，對(duì)8,14,16各種引腳的集成電路邏輯功能進(jìn)行編輯，寫入、在線調(diào)試，并與外圍控制電路結(jié)合，實(shí)現(xiàn)快速的

10、邏輯功能檢測(cè)，數(shù)碼管顯示和語(yǔ)音播報(bào)檢測(cè)結(jié)果。目前，能檢測(cè)25種不同型號(hào)的集成芯片，并且SPCE061A單片機(jī)的內(nèi)存足夠容納更多的程序，可以擴(kuò)展更多的功能。該系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了低成本、高效、簡(jiǎn)易檢測(cè)，具有很高的使用價(jià)值。[5]</p><p>　　(6)智能數(shù)字芯片檢測(cè)儀的研制</p><p>　　該儀器設(shè)計(jì)是由上位PC機(jī)軟件和檢測(cè)端組成的智能數(shù)字芯片檢測(cè)儀，檢測(cè)端由單片機(jī)AT89S52數(shù)據(jù)處理模塊

11、、CPLD EPM3256待測(cè)芯片控制模塊、雙通道24位A/D CS5550采樣電路、EEPROM AT24C08儲(chǔ)存電路、顯示電路、過流保護(hù)電路組成。該儀式是一種經(jīng)濟(jì)、實(shí)用、便捷的數(shù)字芯片檢測(cè)系統(tǒng)，能夠同時(shí)檢測(cè)兩個(gè)48管腳以內(nèi)的DIP封裝的數(shù)字芯片。擁有良好的人機(jī)交互界面，用戶可以輕松地添加和編輯芯片檢測(cè)庫(kù)，儀器還具有出色的自我保護(hù)功能。[6]</p><p><b>　　小 結(jié)</b>

12、</p><p>　　通過對(duì)大量文獻(xiàn)的閱讀，我從中了解到多種集成電路檢測(cè)儀的各種功能，同時(shí)也認(rèn)識(shí)到集成電路檢測(cè)儀的實(shí)際用途的重要性。我本次設(shè)計(jì)的集成電路檢測(cè)儀主控電路是以AT89C51單片機(jī)為核心，與其他檢測(cè)儀器相比具有設(shè)計(jì)簡(jiǎn)便，成本低，操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性較高。</p><p><b>　　參考文獻(xiàn)： </b></p><p>　　[1]鄭迎春，

13、毛玉良.RTX51在半導(dǎo)體分選機(jī)編程中的應(yīng)用東南大學(xué).機(jī)械工程系，江蘇 南京 210096</p><p>　　[2]姚大勇，范大民，曲之國(guó).基于AVR單片機(jī)的電阻分選儀.1、遼寧工程技術(shù)大學(xué)電氣工程系,123000 2、丹東港務(wù)集團(tuán)大東港務(wù)公司 118300</p><p>　　[3]羅延平.基于CCD測(cè)量的陰極套管的自動(dòng)分選機(jī).桂林電子工業(yè)學(xué)院.機(jī)電與交通工程系，廣西,桂林,54

14、1004</p><p>　　[4]格蘭達(dá)技術(shù)（深圳）有限公司.刊名：中國(guó)集成電路,2009.18（4）</p><p>　　[5]宋竹霞，閆峰，李帥，張遠(yuǎn)，安濤.基于SPCE061A的集成芯片檢測(cè)儀的設(shè)計(jì).1、西北大學(xué) 信息科學(xué)與技術(shù)學(xué)院，陜西 西安 710127 ；2、西安交通大學(xué) 電信學(xué)院，陜西 西安 710049</p><p>　　[6]關(guān)善亮，孔銀鴿，苗