射線(xiàn)探傷

1、第三章第三章射線(xiàn)探傷射線(xiàn)探傷教學(xué)目標(biāo)：教學(xué)目標(biāo)：一、了解射線(xiàn)的的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減，了解各種射線(xiàn)檢測(cè)方法的基本原理；二、熟悉常見(jiàn)射線(xiàn)探傷設(shè)備及器材，能正確選擇X射線(xiàn)照相法設(shè)備參數(shù)；三、掌握X射線(xiàn)照相法檢測(cè)工藝，熟悉底片評(píng)定的方法，并能根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)焊縫質(zhì)量進(jìn)行評(píng)級(jí)；四、了解射線(xiàn)探傷防護(hù)常識(shí)。一、一、任務(wù)導(dǎo)入：任務(wù)導(dǎo)入：射線(xiàn)探傷是利用射線(xiàn)可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無(wú)損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品

2、的內(nèi)部缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無(wú)損探傷方法有獨(dú)特的優(yōu)越性，即檢驗(yàn)缺陷的直觀性、準(zhǔn)確性和可靠性，而且，得到的射線(xiàn)底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著設(shè)備較復(fù)雜、成本較高的缺點(diǎn)，并需要對(duì)射線(xiàn)進(jìn)行防護(hù)。二、二、相關(guān)知識(shí)相關(guān)知識(shí)知識(shí)點(diǎn)一：射線(xiàn)的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減知識(shí)點(diǎn)一：射線(xiàn)的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減1X射線(xiàn)的產(chǎn)生用來(lái)產(chǎn)生X射線(xiàn)的裝置是X射線(xiàn)管。它由陰極、陽(yáng)極和真空玻璃（或金屬陶瓷）外殼組成，其簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)和

3、工作原理如圖31所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態(tài)時(shí)，其陽(yáng)極周?chē)纬呻娮釉?，?dāng)在陽(yáng)極與陰極間施加高壓時(shí)，電子加速穿過(guò)真空空間，高速運(yùn)動(dòng)的電子束集中轟擊陽(yáng)極靶子的一個(gè)面積（幾平方毫米左右、稱(chēng)實(shí)際焦點(diǎn)），電子被阻擋減速和吸收，其部分動(dòng)能（約1%）轉(zhuǎn)換為X射線(xiàn)其余99%以上的能量變成熱能。e—－自然對(duì)數(shù)的底；δ—－透過(guò)物質(zhì)的厚度；μ—－衰減系數(shù)（㎝1）。知識(shí)點(diǎn)二、射線(xiàn)探傷的方法及其原理知識(shí)點(diǎn)二、射線(xiàn)探傷的方法及其原理（一）射線(xiàn)照相法（一）射線(xiàn)照

4、相法射線(xiàn)照相法是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線(xiàn)能量衰減程度的不同，使得射線(xiàn)透過(guò)工件后的強(qiáng)度不同，使缺陷能在射線(xiàn)底片上顯示出來(lái)的方法。如圖32所示，從X射線(xiàn)機(jī)發(fā)射出來(lái)的X射線(xiàn)透過(guò)工件時(shí)，由于缺陷內(nèi)部介質(zhì)對(duì)射線(xiàn)的吸收能力和周?chē)旰貌课徊灰粯?，因而透過(guò)缺陷部位的射線(xiàn)強(qiáng)度不同于周?chē)旰貌课弧０涯z片放在工件適當(dāng)位置，在感光膠片上，有缺陷部位和無(wú)缺陷部位將接受不同的射線(xiàn)曝光。再經(jīng)過(guò)暗室處理后，得到底片。然后把底片放在觀片燈上就可以明顯觀察到缺陷

5、處和無(wú)缺陷處具有不同的黑度。評(píng)片人員據(jù)此就可以判斷缺陷的情況。圖32射線(xiàn)照相法原理（二）射線(xiàn)熒光屏觀察法（二）射線(xiàn)熒光屏觀察法熒光屏觀察法是將透過(guò)被檢物體后的不同強(qiáng)度的射線(xiàn)，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體內(nèi)部的影象的方法。此法所用設(shè)備主要由X射線(xiàn)發(fā)生器及其控制設(shè)備﹑熒光屏﹑觀察和記錄用的輔助設(shè)備﹑防護(hù)及傳送工件的裝置等幾部分組成。檢驗(yàn)時(shí)，把工件送至觀察箱上，X射線(xiàn)管發(fā)出的射線(xiàn)透過(guò)被檢工件，落到與之緊挨著的