電子元器件檢驗規(guī)范標準書_第1頁
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1、電子元器件檢驗規(guī)范標準書電子元器件檢驗規(guī)范標準書修訂修訂日期日期修訂修訂單號單號修訂內容摘要修訂內容摘要頁次頁次版次版次修訂修訂審核審核批準批準2011033020110330系統(tǒng)文件新制定系統(tǒng)文件新制定4A0A0批準:批準:審核:審核:編制:編制:1.1.目的目的便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。2.2.適用范適用范圍適用于本公司所有貼片元件(電容電阻電感…)之檢驗。3.3.抽樣計抽樣計劃依MILSTD105E,LEVELII正常單次

2、抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。4.4.允收水準允收水準(AQLAQL)嚴重缺點(CR):0主要缺點(MA):0.4次要缺點(MI):1.5.5.5.參考文參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬用表操作指引》檢驗項目檢驗項目缺陷屬性缺陷屬性缺陷描述缺陷描述檢驗方式檢驗方式備注備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的PN及實物是否都正確任何有誤均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數(shù)量

3、檢驗MAa.實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同若不同不可接受;實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合若不吻合不可接受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受;b.來料品名錯,或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c.本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受;d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超過0.5mm2且未露出基質可接受;否則不可接受;e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;目檢10倍以上

4、的放大鏡檢驗時,必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內.LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗時,必須佩帶靜電帶。二極管類型檢測方法LED選擇數(shù)字萬用表的二極管檔,正向測量,LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光,而反向測量不發(fā)光;否則該二極管不合格。注:有標記的一端為負極。其它二極管選擇數(shù)字萬用表的二極管檔,正向測量,讀數(shù)需小于1,而反向測量讀數(shù)需無窮大;否則該二極管不合格。注:有顏色標記的一端為負極。備注抽樣計劃說明:對于CHIP二

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