磁粉探傷方法

1、磁粉探傷方法磁粉探傷方法(一）一）[主要內(nèi)容]本標準規(guī)定了鐵磁材料及其制品磁粉探傷的一般方法和交叉磁軛探傷方法(以下稱探傷)、缺陷磁痕的分類等內(nèi)容。本標準適用于檢驗鐵磁材料及其制品(以下稱試件)表面或近表面的裂紋和其他缺陷。[應(yīng)用指要]本標準對磁粉探傷所用的各種設(shè)備器材及其技術(shù)要求、探傷時機安排，不同的探傷實施方法及各自的特長與適用范圍、檢驗程序與要領(lǐng)、顯示的磁痕判別與分類等進行了扼要的描述和規(guī)定，它可作為任何部件磁粉檢驗規(guī)程編制的依據(jù)

2、。一個有效的磁粉探傷方法最基本的要求應(yīng)該是這樣的。其所用磁化方法建立于被檢件上的磁場，應(yīng)盡可能與缺陷預(yù)計方向垂直，且應(yīng)有足夠的場強；當用選定的標準試片(塊)校驗時，試片上要求檢出的人工缺陷處形成的漏磁場應(yīng)能充分吸附施加的磁粉，形成清晰可見的磁痕。1.術(shù)語1.1有效探傷范圍在實際探傷條件下，被檢試件上能達到必要磁化狀態(tài)和所需探傷靈敏度的范圍。1.2交叉磁軛交叉磁軛是由兩個軛狀電磁鐵以一定的夾角進行空間或平面交叉，并用兩個不同相位的交流電激

3、勵而產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)磁場的探傷裝置。1.3本標準使用的其他術(shù)語按GB／T12604.5的規(guī)定。2.探傷人員資格2.1從事探傷的人員，應(yīng)具有必要的專業(yè)知識并取得國家主管部門頒發(fā)的與其工作相適應(yīng)的資格證書。2.2色盲及矯正后視力低于1.0的不得從事探傷操作。3.探傷裝置3.1探傷裝置應(yīng)能對試件完成磁化、施加磁粉、提供觀察條件及退磁等四道工序。如無必要，可不帶退磁裝置。3.2探傷裝置應(yīng)適合試件的形狀、尺寸、材質(zhì)、表面狀態(tài)并滿足對缺陷的檢測要求。能有效

4、和安全地進行探傷。3.3磁化裝置有電流法和永久磁鐵法兩種。電流法中又可分成交流、直流、脈動電流、沖擊電流、旋轉(zhuǎn)磁場等。3.4用電流磁化的裝置，應(yīng)能向試件提供檢測缺陷所需的磁勢，符合GB／T3721所規(guī)定的技術(shù)要求。3.5磁軛型或磁極型裝置應(yīng)標明在規(guī)定的磁極距離下的提升力數(shù)據(jù)，作為衡量該裝置能向試件輸入必要磁勢的依據(jù)。電磁鐵磁軛還必須標明電流的種類和頻率。交叉磁軛應(yīng)符合JB／T6870技術(shù)要求。3.6濕法中的磁懸液施加裝置，應(yīng)在磁懸液槽內(nèi)

5、設(shè)置攪拌機構(gòu)，使均勻彌散著磁粉的磁懸液能穩(wěn)定地施加到試件上去而不影響已生成的磁痕。3.7干法中的磁粉施加裝置，必須使干燥的磁粉始終呈均勻分散狀態(tài)，能穩(wěn)定地把磁粉施加到試件上去而不影響已生成的磁痕。3.8使用熒光磁粉或熒光磁粉磁懸液探傷時，要采用黑光燈照射裝置，該裝置輻射波長為320～400nm。在距離黑光燈380mm的試件表面。紫外線輻照度原則上應(yīng)大于800μW／cm2，或按GB／T5097間接進行測定。3.9退磁裝置應(yīng)能根據(jù)試件的用途

6、將剩磁減小到指定的限度，剩磁感應(yīng)強度應(yīng)低于0.3mT。5.2.4對C型標準試片施加磁粉時，應(yīng)采用連續(xù)法。5.2.5C型標準試片的形狀、尺寸、磁特性發(fā)生變化時，不得繼續(xù)使用。5.2.65.2.75.3B型對比試片5.2.85.2.95.3.1B型對比試片用來檢查探傷裝置、磁粉和磁懸液的綜合性能。5.2.105.2.115.3.2B型對比試片采用電磁軟件，或與試件相同材質(zhì)的材料制成。其幾何尺寸如圖3所示。5.2.125.2.135.3.3使

7、用B型對比試片采用穿棒法連續(xù)磁化。5.2.145.2.155.2.165.2.176探傷工序5.2.185.2.196.1原則上應(yīng)在結(jié)束一切加工及處理工序后一定時間進行探傷。若表面處理工藝會給缺陷檢測帶來困難時，則可在表面處理前進行5.2.205.2.21探傷。5.2.225.2.236.2對于滾動軸承等裝配件，如在探傷后無法完全去除磁粉而影響產(chǎn)品質(zhì)量時，則應(yīng)在零件裝配前進行探傷。5.2.245.2.257探傷方法5.2.265.2.2