xrd-sem等材料分析方法試題庫解析

1、材料現(xiàn)代分析方法試題庫材料現(xiàn)代分析方法試題庫一、填空一、填空1、第一個(gè)發(fā)現(xiàn)X射線的科學(xué)家是，第一個(gè)進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)的科學(xué)家是。2、X射線的本質(zhì)是，其波長為。3、X射線本質(zhì)上是一種______________，它既具有_____________性，又具有____________性，X射線衍射分析是利用了它的______________。4、特征X射線的波長與和無關(guān)。而與有關(guān)。5、X射線一方面具有波動(dòng)性，表現(xiàn)為具有一定的，另一方面又具有粒

2、子性，體現(xiàn)為具有一定的，二者之間的關(guān)系為。6、莫塞來定律反映了材料產(chǎn)生的與其的關(guān)系。7、從X射線管射出的X射線譜通常包括和。8、當(dāng)高速的電子束轟擊金屬靶會(huì)產(chǎn)生兩類X射線，它們是_____________和_____________，其中在X射線粉末衍射中采用的是___________。9、特征X射線是由元素原子中___________引起的，因此各元素都有特定的___________和___________電壓，特征譜與原子序數(shù)之間服從

3、___________定律。10、同一元素的入Kα1、入Kα2、入Kβ的相對大小依次為___________；能量從小到大的順序是_______________。(注：用不等式標(biāo)出)11、X射線通過物質(zhì)時(shí)，部分X射線將改變它們前進(jìn)的方向，即發(fā)生散射現(xiàn)象。X射線的散射包括兩種：和。12、hukvlw=0關(guān)系式稱為______________若晶面(hkl)和晶向[uvw]滿足該關(guān)系式，表明_________________________

4、_________。15、倒易點(diǎn)陣是由晶體點(diǎn)陣按照式中，為倒易點(diǎn)陣基矢，為正點(diǎn)陣基矢的對應(yīng)關(guān)系建立的空間點(diǎn)陣。在這個(gè)倒易點(diǎn)陣中，倒易矢量的坐標(biāo)表達(dá)式為，其基本性質(zhì)為。三個(gè)方面。28、PDF卡片的二種常用的數(shù)值索引是_________索引和_________索引，前者是按衍射線的_________順序排列的，后者是按衍射線的_________順序排列的。29、利用衍射卡片鑒定物相的主要依據(jù)是___________，參考__________

5、_。30、X射線衍射定量分析的方法有、、、、。31、精確測定點(diǎn)陣參數(shù)校正或消除誤差常用的有哪三種方法？有、、三種方法。32、X射線衍射儀測定宏觀應(yīng)力的方法主要有和兩種。33、為了測得材料表面沿某個(gè)方向上的宏觀應(yīng)力，至少要測_______個(gè)方向上某晶面的晶面間距，相應(yīng)的方法稱為_____________。34、織構(gòu)表示方法有、、三種35、計(jì)算機(jī)技術(shù)在多晶體衍射中的應(yīng)用主要有三個(gè)方面：①、②、③。36、光學(xué)顯微鏡是可見光束通過光學(xué)透鏡發(fā)生達(dá)