《材料分析測(cè)試技術(shù)》試卷(答案)

1、《材料分析測(cè)試技術(shù)》試卷（答案）一、填空題：（20分，每空一分）1.X射線管主要由陽(yáng)極、陰極、和窗口構(gòu)成。2.X射線透過物質(zhì)時(shí)產(chǎn)生的物理效應(yīng)有：散射、光電效應(yīng)、透射X射線、和熱。3.德拜照相法中的底片安裝方法有：正裝、反裝和偏裝三種。4.X射線物相分析方法分：定性分析和定量分析兩種；測(cè)鋼中殘余奧氏體的直接比較法就屬于其中的定量分析方法。5.透射電子顯微鏡的分辨率主要受衍射效應(yīng)和像差兩因素影響。6.今天復(fù)型技術(shù)主要應(yīng)用于萃取復(fù)型來(lái)揭取第二

2、相微小顆粒進(jìn)行分析。7.電子探針包括波譜儀和能譜儀成分分析儀器。8.掃描電子顯微鏡常用的信號(hào)是二次電子和背散射電子。二、選擇題：（8分，每題一分）1.X射線衍射方法中最常用的方法是（b）。a勞厄法；b粉末多晶法；c周轉(zhuǎn)晶體法。2.已知X光管是銅靶，應(yīng)選擇的濾波片材料是（b）。aCo；b.Ni；c.Fe。3.X射線物相定性分析方法中有三種索引，如果已知物質(zhì)名時(shí)可以采用（c）。a哈氏無(wú)機(jī)數(shù)值索引；b.芬克無(wú)機(jī)數(shù)值索引；c.戴維無(wú)機(jī)字母索引。

3、4.能提高透射電鏡成像襯度的可動(dòng)光闌是（b）。a第二聚光鏡光闌；b.物鏡光闌；c.選區(qū)光闌。5.透射電子顯微鏡中可以消除的像差是（b）。a球差；b.像散；c.色差。6.可以幫助我們估計(jì)樣品厚度的復(fù)雜衍射花樣是（a）。a高階勞厄斑點(diǎn)；b.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)；c.二次衍射斑點(diǎn)。7.電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中可用于分析1nm厚表層成分的信號(hào)是（b）。a背散射電子；b.俄歇電子；c.特征X射線。8.中心暗場(chǎng)像的成像操作方法是（c）。a以物

4、鏡光欄套住透射斑；b以物鏡光欄套住衍射斑；c將衍射斑移至中心并以物鏡光欄套住透射斑。三、問答題：（24分，每題8分）1.X射線衍射儀法中對(duì)粉末多晶樣品的要求是什么？答：X射線衍射儀法中樣品是塊狀粉末樣品，首先要求粉末粒度要大小適中，在1um5um之間；其次粉末不能有應(yīng)力和織構(gòu)；最后是樣品有一個(gè)最佳厚度（t=2.作圖并證明公式：Rd=Lλ。作圖：以1λ為半徑作厄瓦爾德球面，入射線經(jīng)試樣O與厄瓦爾德球面交于O點(diǎn)，與熒光屏交于O，點(diǎn)；衍射線與

5、厄瓦爾德球面交于G點(diǎn)，與熒光屏交于A點(diǎn)。OG是倒易矢量g，O，A=R，OO，=L?！咄干潆娮语@微鏡的孔徑半角很小（23）∴可近似認(rèn)為gR有⊿OOG≌⊿OO，AOOL=gR將OO=1λ，g=1d代入上式得：Rd=Lλ五、綜合題：（28分）1.為使Cukα線的強(qiáng)度衰減12，需要多厚的Ni濾波片？（Ni的μm=49.2cm2g1ρ=8.9gcm3）。（10分）解：根據(jù)強(qiáng)度衰減公式I=I0eμmρX12=e49.28.9XX=ln249.28.

6、9=15.83um2.有一金屬材料的多晶粉末電子衍射花樣為六道同心圓環(huán)，其半徑分別是：8.42mm，11.88mm，14.52mm，16.84mm，18.88mm，20.49mm；相機(jī)常數(shù)Lλ=17.00mm。請(qǐng)標(biāo)定衍射花樣并求晶格常數(shù)。（10分）解：已知R1=8.42；R2=11.88；R3=14.52；R4=16.84；R5=18.88；R6=20.49有R12=70.8964；R22=141.1344；R32=210.8304；R

7、42=283.5856；R52=356.4544；R62=419.8401。R12R12=1；R22R12=1.99；R32R12=2.97；R42R12=4；R52R12=5.02；R62R12=5.92。有N數(shù)列為：1：2：3：4：5：6。由于金屬材料中很少是簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)，故考慮N數(shù)列為：2：4：6：8：10：12。這是體心立方晶體結(jié)構(gòu)，其值對(duì)應(yīng)的晶面族指數(shù)是：110；200；211；220；310；222。根據(jù)電子衍射基本公式Rd