以cr為中間層的類石墨梯度層微觀結(jié)構(gòu)分析課程設(shè)計(jì)

1、材料分析測試課程設(shè)計(jì)（論文）題目： 以cr為中間層的類石墨梯度層微觀結(jié)構(gòu)分析學(xué) 院 材料科學(xué)與工程專 業(yè) 材料物理班 級(jí) 材物092學(xué) 生 丁沫學(xué) 號(hào) 3080101354指 導(dǎo) 教 師 陳迪春起 止 時(shí) 間 2012.12.24~2013.01.042009 級(jí)材料物理化學(xué)系材料分析測試課設(shè)論文3目錄第一章 前言..............................................................

2、........................................ 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。1.1 類石墨鍍層（GLC）簡介.................................................................錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。1.2 類石墨鍍層制備技術(shù)...............................................

3、..........................錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。1.3 非平衡磁控濺射技術(shù)簡介.................................................................錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。第二章 實(shí)驗(yàn)分析方法及實(shí)驗(yàn)儀器.............................................................

4、..... 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。2.1 實(shí)驗(yàn)分析.............................................................................................錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。2.2 實(shí)驗(yàn)儀器及簡介................................................................

5、................ 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。第三章 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析...................................................................................... 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。3.1 XPS 分析..........................................................

6、................................... 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。3.2 電鏡分析.............................................................................................錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。3.2.1 TEM 分析.................................

7、................................................. 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。3.2.2 SEM 分析.................................................................................. 錯(cuò)誤！未定義書簽。 錯(cuò)誤！未定義書簽。3.3 原子力顯微分析（AFM）.....................