液晶面板IC區(qū)域?qū)щ娏Ｗ幼詣庸鈱W檢測算法的研究.pdf

1、在工業(yè)環(huán)境中，對液晶面板的檢測多為人工檢測，檢測結(jié)果主觀性強，檢測效率低，而且一般只是抽樣檢測，不能滿足工業(yè)化生產(chǎn)對液晶面板產(chǎn)品質(zhì)量的檢測要求。隨著自動化技術(shù)的進步，工業(yè)生產(chǎn)對液晶面板的自動化檢測的需求越來越大，自動化技術(shù)也是各個行業(yè)的研究重點。本文研究的液晶面板IC區(qū)域?qū)щ娏Ｗ幼詣庸鈱W檢測算法能很好地解決當前人工檢測的不足，檢測效率和誤檢漏檢率都能滿足工業(yè)生產(chǎn)的檢測要求。
　　本文首先對COG技術(shù)原理做了介紹，通過分析人工檢測的

2、不足，提出了基于機器視覺的自動光學檢測方式來進行檢測。該方式能彌補人工檢測的不足，成本較低而且檢測效率高。
　　其次，對檢測系統(tǒng)的總體設計方案進行了介紹，整個檢測系統(tǒng)是由硬件和軟件兩部分組成，分為運動控制模塊、圖像采集模塊、軟件交互模塊和檢測算法模塊，其中PLC控制整個檢測系統(tǒng)的機械運動，工控機則控制相機采集圖像，運行檢測算法。
　　然后，對采集的導電粒子圖像進行分析。因為采集的原始圖有很多不感興趣的信息，所以需要對原始圖像

3、進行處理，從整個圖像中提取出感興趣的導電粒子區(qū)域，并對圖像進行去噪和光照不均校正處理。
　　最后，針對導電粒子具有灰度值變化較大的特征，提出了一種基于光照方向局部均值差值的導電粒子檢測算法，通過對導電粒子的灰度特征進行增強，大大降低了導電粒子檢測的誤檢率和漏檢率。針對多個導電粒子可能相互粘連從而形成一個大的連通區(qū)域，使用局部極大值法來計算導電粒子個數(shù)和位置。針對COG熱壓也會存在偏移誤差導致觸摸面板不合格的情況，提出了一種導電粒子