同步輻射共聚焦XAFS的實驗方法及應用.pdf

1、X射線吸收精細結構譜(X-ray Absorption Fine Structure，XAFS)能夠提供待測元素的配位數(shù)、鍵長和價態(tài)結構信息等，且不依賴樣品長程有序的晶體結構、對元素有選擇性，是一種研究物質結構的重要手段，廣泛應用于多學科領域，如能源、材料、環(huán)境、生物以及考古學等。
　　通常，在X射線吸收精細結構譜學測量中，同步輻射的光斑大小在微米至毫米量級，樣品為均一的樣品。然而，在一些實際研究體系中，特別是文化遺產(chǎn)領域的研究中

2、，樣品珍貴、種類多樣、其空間分布不均一而且復雜，亟需發(fā)展空間分辨的X射線吸收精細結構光譜，以便更準確表征在空間維度上的物質結構。
　　本論文的主要工作是基于北京同步輻射光源，利用毛細管共聚焦方法，搭建了一套可移動的、深度分辨的、且適用于常規(guī)XAFS線站的微區(qū)共聚焦XAFS實驗裝置，用以拓展常規(guī)XAFS的實驗方法。
　　本論文的另一個重要工作為:共聚焦XAFS裝置的應用研究。選擇明代祭紅陶瓷釉層作為研究對象，應用共聚焦XAFS