輕離子誘導的裂變激發(fā)函數(shù)與核耗散的探測.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、核耗散性質和強度的確定是目前核物理領域的熱點問題。熔合-裂變實驗提供的裂變和蒸發(fā)截面的激發(fā)函數(shù)、粒子多重性等數(shù)據(jù)能夠直接用于核耗散特性的研究。本文基于耦合了粒子統(tǒng)計發(fā)射的隨機模型，通過分析輕離子誘導的裂變激發(fā)函數(shù)數(shù)據(jù)來提取核耗散強度的信息。
　　我們用Langevin模型分析了p+206Pb和p+209Bi反應中測量的裂變激發(fā)函數(shù)。通過計算與實驗數(shù)據(jù)的比較，提取的鞍點前摩擦強度β為(3-5)×1021s-1。進而，我們研究了復合系

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