位標(biāo)器動(dòng)平衡測(cè)試系統(tǒng)中EMC的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、在研制位標(biāo)器動(dòng)平衡測(cè)試儀的過(guò)程中，電磁干擾對(duì)設(shè)備的許多性能引起了負(fù)面影響，電子元器件、微處理芯片容易受到外界的電磁干擾而誤動(dòng)作或性能下降。為了使處于同一電磁環(huán)境下的電子設(shè)備和系統(tǒng)不發(fā)生相互干擾，正常運(yùn)行，并且測(cè)試精度高，進(jìn)行了位標(biāo)器動(dòng)平衡測(cè)試系統(tǒng)中的電磁兼容設(shè)計(jì)和研究。本文首先介紹了電磁兼容（EMC）的定義，研究的方法、意義和內(nèi)容，其發(fā)展的歷史、電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化的工作，以及本課題研究的重要意義。然后闡述了位標(biāo)器動(dòng)平衡測(cè)試儀的研制方案及其各

2、部分的功能，主要技術(shù)指標(biāo)，以及本系統(tǒng)中的電磁兼容設(shè)計(jì)。研究了對(duì)來(lái)自陀螺轉(zhuǎn)子的光電脈沖信號(hào)進(jìn)行處理的原理、方法和實(shí)施方案，著重分析了信號(hào)處理系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)考慮的電磁兼容問(wèn)題以及現(xiàn)場(chǎng)中的干擾因素，提出了相應(yīng)的解決措施；從設(shè)備接口、有源器件選擇、印制電路板設(shè)計(jì)和單片機(jī)軟硬件設(shè)計(jì)幾個(gè)方面詳細(xì)介紹了采用的EMC技術(shù)；提出了從提高電磁兼容性的角度進(jìn)行，為了標(biāo)定測(cè)試系統(tǒng)的最終精度、模擬位標(biāo)器的理想輸出情況而研制的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源的原理和方法。研究了系統(tǒng)部分的校