富勒烯分子在硅表面的室溫吸附幾何結構及其調(diào)控.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、利用超高真空掃描隧道顯微鏡(UHV-STM)系統(tǒng)研究了室溫下富勒烯分子在Si(111)-7×7重構表面上的吸附行為,統(tǒng)計的結果顯示富勒烯分子更傾向于吸附在五個特殊的位點:角洞、有缺陷和無缺陷的半單胞的中心、有缺陷和無缺陷的半單胞的頂戴原子上方,而且在有缺陷和無缺陷的半單胞的頂戴原子上方吸附的概率最大。通過不同吸附位點上單個富勒烯分子的高分辨的STM圖像得到了分子的吸附幾何結構,確定了富勒烯分子在每個吸附位點的吸附取向。相同吸附位點的富勒

2、烯分子的取向與襯底有著固定的夾角,這一現(xiàn)象表明對于富勒烯分子而言在特定的吸附位點上存在著多個等價的吸附狀態(tài)。
　　 通過金屬原子或者團簇實現(xiàn)了對有機分子的吸附結構的調(diào)控。實驗結果表明銀原子或者銀團簇可以對吸附在硅表面的富勒烯分子的吸附結構進行調(diào)控,并且這種調(diào)控與銀原子或者銀團簇所在的位置及其數(shù)量的多少有關。對于銀團簇調(diào)控后的單個富勒烯分子,可利用STM針尖將銀原子或者銀團簇剝離,使該富勒烯分子恢復到調(diào)控前的吸附結構,從實驗上證實

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