2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、本文利用空間環(huán)境地面模擬設(shè)備和Co-60γ輻照裝置,研究了熱循環(huán)和輻照對陶瓷封裝電容器電容量和損耗角正切值的影響規(guī)律。利用掃描電鏡觀察了陶瓷封裝電容器結(jié)構(gòu)和失效形式,并利用能譜儀對金屬電極、陶瓷電介質(zhì)等進行了成分分析。建立了陶瓷封裝電容器橫截面二維有限元模型,分析了陶瓷封裝電容器電極和電介質(zhì)層的熱應(yīng)力分布規(guī)律。實驗結(jié)果表明,在熱循環(huán)過程中,隨著溫度的升高,陶瓷封裝電容器的電容量變化率存在一個峰值,電容量變化率與溫度呈Lorentz峰值函

2、數(shù)的變化關(guān)系;隨著溫度的升高,其損耗角正切值是單調(diào)遞減的。隨著循環(huán)次數(shù)(循環(huán)時間)的增加,電容器的電容量是減小的,瓷片電容器的電容量變化率與循環(huán)次數(shù)滿足拋物線函數(shù)變化關(guān)系;其損耗角正切值是單調(diào)遞增的,損耗角正切值與循環(huán)次數(shù)滿足線性的函數(shù)關(guān)系。在熱循環(huán)過程中,金屬電極發(fā)生氧化,引起電容量減小;電容器內(nèi)部電介質(zhì)和金屬電極之間的熱錯配應(yīng)力對其結(jié)構(gòu)造成損傷,當(dāng)這種損傷累積到一定程度,就表現(xiàn)為電介質(zhì)和電極層間開裂,導(dǎo)致電容體失效。在熱循環(huán)的上下限

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