微帶陣列天線互耦抑制技術(shù)的研究.pdf

1、由于具有剖面薄、體積小、重量輕、造價(jià)低廉、便于集成等優(yōu)點(diǎn)，微帶天線及其陣列已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于各種無(wú)線通信及雷達(dá)系統(tǒng)中。但是，當(dāng)微帶天線及其陣列工作時(shí)，會(huì)在襯底中激勵(lì)起表面波，這使得陣列單元間的互耦增大，天線及其陣列增益降低。而相控陣天線中，由于單元間的互耦效應(yīng)將引起掃描盲點(diǎn)，影響掃描范圍。 本論文正是基于上述問(wèn)題開(kāi)展研究的。首先總結(jié)了光子晶體(PBG)、共面電子帶隙(UC-EBG)及高阻抗表面在微帶陣列天線單元之間互耦抑制方面的應(yīng)

2、用。然后，研究了缺陷地結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)、發(fā)展概況及應(yīng)用。最后提出利用缺陷地結(jié)構(gòu)(DGS)來(lái)抑制互耦，從而降低旁瓣，提高天線性能。仿真以及測(cè)試結(jié)果分析表明，DGS結(jié)構(gòu)能夠明顯降低天線陣元之間的耦合，增大天線增益，消除相控陣掃描盲點(diǎn)。 本文的主要內(nèi)容為： 1.設(shè)計(jì)了一種新型DGS結(jié)構(gòu)，并對(duì)該結(jié)構(gòu)進(jìn)行了阻帶特性及參數(shù)提取分析，提出了一種更為準(zhǔn)確的阻帶特性分析模型，為DGS結(jié)構(gòu)在微帶陣列天線中的應(yīng)用提供較為準(zhǔn)確的阻帶特性分析途徑。