基于FPGA的掃描控制器仿真與設計.pdf

1、隨著人們日常生活水平的不斷提高，高科技電子產品深入人心，這又促使集成電路行業(yè)飛速發(fā)展。僅從芯片的集成度上來看，目前的芯片上晶體管的數量已經數以億計，而加工工藝也逐漸從微米量級，迅速發(fā)展為超深亞微米級(VDSM)。隨之而來的，是對芯片測試技術的進一步挑戰(zhàn)。其主要原因之一是由于芯片制作的高精度化，從而導致對芯片進行互聯測試時難度加大。其二，由于應用傳統(tǒng)的物理探針已經測試不到芯片內部的節(jié)點，所以這種傳統(tǒng)的測試方法已經滿足不了目前較復雜的電路板

2、進行測試。由于邊界掃描技術彌補了傳統(tǒng)電路測試的不足，而致使其被廣大測試技術人員所應用。
　　 本文在對可測性設計方法深入研究之后，采用邊界掃描法設計了一種邊界掃描控制器，由于該方法具有針對數字電路芯片專用的特性，可以精確的測試出被測電路內部的部件是否存在問題，并可以測試其內部各部件的互聯是否出現問題。經過研究被測電路的功能和結構，確定了針對該被測電路的專用邊界掃描控制器整體設計方案。
　　 本文所做的主要工作和具體研究內