高陡度共形光學(xué)頭罩子孔徑拼接干涉測(cè)試方法研究.pdf

1、共形光學(xué)頭罩由于其彈頭表面的流線型設(shè)計(jì)，能大幅度減少導(dǎo)彈在飛行過(guò)程中的空氣阻力，增加導(dǎo)彈的作用距離，使得其在航空航天領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。流線型的設(shè)計(jì)隨之帶來(lái)的是頭罩的高陡度特性，這一性質(zhì)使得一般的檢測(cè)方法難以對(duì)高陡度頭罩進(jìn)行面形檢測(cè)。伴隨著光學(xué)測(cè)試和光學(xué)加工的不斷發(fā)展，對(duì)于高陡度共形光學(xué)非球面的高效率、高精度、低成本的檢測(cè)方法亟待研究。
　　本文針對(duì)基于環(huán)形子孔徑拼接來(lái)檢測(cè)高陡度特性共形頭罩面形誤差的方法進(jìn)行深入研究。通過(guò)精確劃分環(huán)形子

2、孔徑的有效區(qū)域、優(yōu)化環(huán)形子孔徑拼接算法，來(lái)提高高陡度頭罩面形的檢測(cè)精度。
　　首先，本文研究了子孔徑拼接檢測(cè)方法以及環(huán)形子孔徑拼接算法的基本原理，包括逐次拼接算法和全局優(yōu)化拼接算法，優(yōu)化了算法的拼接精度；其次，分析了被測(cè)頭罩的具體參數(shù)，制定了頭罩面形的檢測(cè)方案，對(duì)環(huán)形子孔徑的劃分方式進(jìn)行了數(shù)學(xué)公式推導(dǎo)及參數(shù)運(yùn)算，對(duì)子孔徑劃分的參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，討論了拼接數(shù)據(jù)的預(yù)處理方法；最后通過(guò)模擬實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了基于環(huán)形子孔徑拼接的光學(xué)頭罩檢測(cè)方法，分別