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文檔簡介
1、在現行引線框架的IC封裝模式過程中,分層是一種重大的質量異常現象,且是產品本身的可靠性的絕對關鍵因素。而在生產過程中如何防范于未然,提高合格率,實在是急需解決的問題。本文以實驗為主,對分層現象進行求證,從而獲得較佳的封裝參數,封裝材料和探討分層發(fā)生的原因,這些討論對于工藝改善及防治分層的發(fā)生,將有實質性的意義。
本文主要針對引線框架和塑封料之間的分層現象作研究。通過魚骨圖分析出影響分層的主要因素有焊線過程的預熱溫度、封裝參數、
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