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文檔簡(jiǎn)介
1、ZnO作為一種直接寬禁帶半導(dǎo)體材料,適合應(yīng)用在發(fā)光二級(jí)管、激光器和光探測(cè)器等光電器件中。由于自身特性決定,ZnO較容易沿著c軸擇優(yōu)取向生長(zhǎng)。因缺乏反演對(duì)稱性,ZnO在c軸方向具有很強(qiáng)的晶格極化效應(yīng),從而產(chǎn)生內(nèi)建電場(chǎng),使得電子和空穴的波函數(shù)在空間上發(fā)生分離,還會(huì)導(dǎo)致多量子阱中紫外發(fā)光峰發(fā)生紅移,最終降低了器件的發(fā)光效率。要避免或削弱這種晶格極化帶來的影響,使ZnO沿著非極性或半極性方向生長(zhǎng)是一種可行的解決方案。
本文采用脈沖
2、激光沉積法分別在R面藍(lán)寶石、玻璃和石英襯底上制備了過渡金屬(Mn、Co)及Na、Ga等共摻的ZnO薄膜,通過研究了生長(zhǎng)參數(shù)和摻雜條件對(duì)生長(zhǎng)取向和性能的影響,可控地制備了多種不同擇優(yōu)取向的ZnO基半極性和非極性薄膜和結(jié)構(gòu)。主要結(jié)果如下:
1.采用脈沖激光沉積法在R面藍(lán)寶石襯底上制備了Zn(Mn,Na)O薄膜,結(jié)果表明:襯底溫度、生長(zhǎng)氣壓和摻雜條件對(duì)ZnO薄膜的晶體質(zhì)量和性能都有較大影響。在0.02 Pa,600℃條件下,摻雜
3、5 at.%Mn和1 at.%Na后制備的薄膜,其口軸擇優(yōu)取向最好,晶體質(zhì)量和電學(xué)性質(zhì)等都最佳。
2.將上述Zn(Mn,Na)薄膜作為緩沖層,在上述同樣生長(zhǎng)條件下制備了純ZnO薄膜,同樣獲得非極性薄膜。在此基礎(chǔ)上,我們進(jìn)一步制備了,n-Zn(Mn,Na)O/n-ZnO/i-MgZnO/p-NiO和n-ZnO/i-MgZnO/p-NiO兩種結(jié)構(gòu)的異質(zhì)結(jié),Ⅰ-Ⅴ測(cè)試結(jié)果顯示緩沖層的引入降低了開啟電壓并減小了反向漏電流。
4、 3.采用脈沖激光沉積法在玻璃襯底上制備了Co-Ga共摻的半極性ZnO薄膜,結(jié)果表明:在40 Pa和500℃下得到的Zn(Co,Ga)O薄膜的晶體質(zhì)量和擇優(yōu)取向最好,以該薄膜為緩沖層,成功地制備了半極性純ZnO薄膜。
4.采用脈沖激光沉積法在石英襯底上制備了不同元素(Mn-Na、Mn-Li和Co-Ga)共摻的ZnO薄膜。研究發(fā)現(xiàn):較高的襯底溫度、較高的氧壓、較高的激光能量、較小的靶距以及較大的Mn摻雜量都有利于薄膜偏
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