PSTM成像的標準-非標準FDTD數值分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、光子掃描隧道顯微鏡(PSTM)是掃描探針顯微鏡(SPM)的一種,利用光學探針探測樣品表面隱失波攜帶的超高頻空間信息,突破衍射極限的限制,能對納米尺度的樣品成像,且具有光學觀察無損探測的特點,可觀察活的生物樣品,保持細胞活性,在透明材料、生物、醫(yī)學研究中都有應用。 影響PSTM成像分辨率和通光效率的因素有很多,光纖探針作為提取近場信息的部件起著關鍵作用;入射光的極化特性也能夠明顯的影響成像質量;此外與探針與樣品間的距離控制以及入射

2、光的角度等都有關系。運用數值模擬可以方便有效的分析以上因素,從理論上對近場成像過程有更清楚地認識,本論文即是圍繞這個目的展開。 本論文的主要內容與結果為:首先,在本課題組已有成果的基礎上,嘗試在PSTM中應用帶鋁的光纖探針來提高成像質量。采用二維時域有限差分法(FDTD)模擬計算了裸光纖、尖端鍍鋁顆粒光纖、孔徑鍍鋁膜光纖和全鍍鋁膜光纖探針的成像,結果顯示:金屬納米粒子或薄膜在可見光的激勵下產生表面增強效應,采用帶鋁探針后的靈敏度

3、均比裸光纖提高兩個數量級;尖端鍍鋁顆粒光纖探針的分辨率可優(yōu)于20nm;全鍍鋁膜和孔徑鍍鋁膜光纖探針的分辨率分別可達到20nm和60nm。 其次,采用三維FDTD模擬計算了PSTM系統(tǒng)中的介質和銀質金屬樣品在p偏振和s偏振模式光源下的近場強度分布。樣品為復雜不對稱“PSTM”字樣,通過計算樣品上方5nm處的近場強度分布可以看出:對介質樣品,p偏振波能較好的反映樣品的形貌,這是由入射電場的方向決定的;銀質金屬有表面增強作用,對不同偏

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