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1、實(shí)驗(yàn)四具有微分負(fù)反饋的反饋校正一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模阂弧?shí)驗(yàn)?zāi)康模?、按給定性能指標(biāo),對(duì)固有模擬對(duì)象運(yùn)用并聯(lián)校正對(duì)數(shù)頻率特性的近似作圖法,進(jìn)行反饋校正。2、用實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證理論計(jì)算結(jié)果。3、熟悉期望開環(huán)傳遞函數(shù)為典型I型的參數(shù)計(jì)算及微分反饋校正調(diào)節(jié)器的實(shí)現(xiàn)。二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備1、TDNACACS教學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)一套2、萬用表一塊三、實(shí)驗(yàn)要求:實(shí)驗(yàn)要求:1、觀測(cè)未校正系統(tǒng)的穩(wěn)定性及瞬態(tài)響應(yīng)。2、觀測(cè)校正后系統(tǒng)的穩(wěn)定性極瞬態(tài)響應(yīng)。四、實(shí)驗(yàn)步驟、原理
2、及內(nèi)容:四、實(shí)驗(yàn)步驟、原理及內(nèi)容:1、未校正系統(tǒng)的性能指標(biāo)1)原系統(tǒng)的原理方塊圖未校正系統(tǒng)的方框圖如圖1所示:圖1未校正系統(tǒng)的方框圖2)系統(tǒng)校正前的模擬電路圖,如圖2所示圖2系統(tǒng)校正前的模擬電路圖3)實(shí)驗(yàn)步驟準(zhǔn)備:將模擬電路輸入端R(t)與信號(hào)源單元(U1SG)的輸出端OUT端相連接;模擬電路的輸出端C(t)接至示波器。步驟:按圖2接線;加入階躍電壓,觀察階躍響應(yīng)曲線,并測(cè)出超調(diào)量Mp和調(diào)節(jié)時(shí)間Ts,記錄曲線及參數(shù)。圖4校正后的方塊圖3
3、)系統(tǒng)校正后的模擬電路圖系統(tǒng)校正前后的模擬電路圖如圖5所示:圖5系統(tǒng)校正后的模擬電路圖4)實(shí)驗(yàn)步驟①準(zhǔn)備:設(shè)計(jì)校正裝置參數(shù)根據(jù)給定性能指標(biāo),設(shè)期望開環(huán)傳遞函數(shù)為)1(19)(??TSSsG因?yàn)?,閉環(huán)特征方程為:或0192???STS0T19T12???SS令707.0??故T1921??026.0?T由于微分反饋通道的Bode圖是期望特性Bode圖的倒數(shù),所以微分反饋通道的放大倍數(shù)為期望特性的放大倍數(shù)的倒數(shù),即119。而微分反饋通道傳遞
4、函數(shù)的時(shí)間常數(shù)取期望特性時(shí)間常數(shù)T的二倍,為80。因此,反饋通道的傳遞函數(shù)為:021190.0526118010.01251RCSSSRCSSS?????根據(jù)上式中各時(shí)間常數(shù)值,圖5中按以下參數(shù)設(shè)定,微分反饋對(duì)系統(tǒng)的性能有很大的改善。R1=100KR2=25KC=0.5?F?②步驟:按圖5接線,加入階躍電壓,觀察階躍響應(yīng)曲線,并測(cè)出超調(diào)量Mp和調(diào)節(jié)時(shí)間Ts,看是否達(dá)到期望值。記錄達(dá)標(biāo)的校正裝置的實(shí)測(cè)曲線及參數(shù)。5)實(shí)驗(yàn)的結(jié)果校正后系統(tǒng)的
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