電子工程外文翻譯--一種自校驗(yàn)rs編碼器的分析和設(shè)計（譯文）

1、中文 中文 4600 字 文獻(xiàn)出處： 文獻(xiàn)出處：Cardarilli G C, Pontarelli S, Re M, et al. A Self Checking Reed Solomon Encoder: Design and Analysis[C]// IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems. IEEE Computer

2、 Society, 2005:111- 119.畢業(yè)設(shè)計（論文）外文文獻(xiàn)翻譯 畢業(yè)設(shè)計（論文）外文文獻(xiàn)翻譯畢 業(yè) 設(shè) 計 （ 論 文 ） 題 目翻譯題目 翻譯題目 一種自校驗(yàn) 一種自校驗(yàn) RS RS 編碼器的分析和設(shè)計 編碼器的分析和設(shè)計系 電子工程 電子工程專 業(yè) 電子信息科學(xué)與技術(shù) 電子信息科學(xué)與技術(shù)姓 名班 級學(xué) 號指導(dǎo)教師 指導(dǎo)教師的器件容易受到外界的干擾而產(chǎn)生出的新現(xiàn)象。其中的一項重要因 素是電磁輻射對

3、硅器件的影響。高能粒子在穿越器件的過程中可以給器件注入電荷，這些電荷由于具有電極性而能夠到達(dá)有源器件并對它們造成影響。這些被稱為單粒子翻轉(zhuǎn)的現(xiàn)象在太空環(huán)境的應(yīng)用場合得到了極大的研究。單粒子翻轉(zhuǎn)在海洋探測和航空設(shè)備中被觀察。當(dāng)今，使用最為廣泛的糾錯碼是基于有限時域算法的RS 碼。我們提出使用這種方法能在編碼方面產(chǎn)生的錯誤以使具有這種算法結(jié)構(gòu)的電路具有自我校驗(yàn)功能。這種電路結(jié)構(gòu)通過 FPGA 實(shí)現(xiàn)，我們提出的想法通過這種電路實(shí)現(xiàn)。論文是這樣

4、組織的：第二節(jié)描述用于 FPGA 中的模式的故障，第三節(jié)說明了 RS 碼使用的背景，第四節(jié)介紹了關(guān)于 RS 編碼器的算術(shù)結(jié)構(gòu)的屬性。在第五節(jié)擬提出自檢 RS 編碼器架構(gòu)。而在第六節(jié)提出了一些面積和延遲的評估。最后，在第七節(jié)給出結(jié)論。一種基于 FPGA 的 SRAM 的單粒子翻轉(zhuǎn)的故障建模概述在本節(jié)介紹。提出錯誤的根據(jù)是最近提出的建模方法中的使用。一個典型的基于 FPGA 的 SRAM 基本組成是由一個個 CLB 陣列（復(fù)雜邏輯塊）。單粒

5、子翻轉(zhuǎn)可以影響無論是 FPGA 或使用應(yīng)用程序的內(nèi)存的元素配置的應(yīng)用程序的使用壽命。因此，單粒子翻轉(zhuǎn)在 FPGA 上的影響可以劃分如下：1）在寄存器單粒子翻轉(zhuǎn)：2）單粒子翻轉(zhuǎn)中的 LUT：3）路由配置內(nèi)存單粒子翻轉(zhuǎn)：在一個存儲單元 CLB 的單粒子翻轉(zhuǎn)可以被看作是一個位翻轉(zhuǎn)，改變了觸發(fā)器中存儲的位（從 1 到 0 或從 0 到 1）。變化中的 LUT 的單粒子翻轉(zhuǎn)的功能提供了組合運(yùn)作。當(dāng)存儲單元的一個單粒子翻轉(zhuǎn)的影響是由輸入信號處理所提