綜合參數(shù)記錄器中關(guān)鍵技術(shù)的研究.pdf

1、綜合參數(shù)記錄器用于某大型試驗(yàn)。試驗(yàn)中，記錄多路模擬及數(shù)字信號(hào)，同時(shí)具備接入被測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部1553總線的功能，完成上傳數(shù)據(jù)的任務(wù)。試驗(yàn)結(jié)束后，將試驗(yàn)數(shù)據(jù)回讀至上位機(jī)，為總結(jié)試驗(yàn)結(jié)論提供參考依據(jù)。
　　綜合參數(shù)記錄器采用模塊化設(shè)計(jì)，本文對(duì)其功能模塊的劃分依據(jù)及各自的實(shí)現(xiàn)過程僅作簡(jiǎn)要說明，而對(duì)各功能模塊中的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行詳盡論述，該部分內(nèi)容為記錄器設(shè)計(jì)的核心內(nèi)容，具體如下：
　　1）MIL-STD-1553B終端設(shè)計(jì)及閉環(huán)測(cè)試。本文將

2、這部分內(nèi)容作為第一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行論述。分別介紹了1553B系統(tǒng)框架結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)格式及消息類型、1553B總線協(xié)議芯片EP-H31580的配置過程以及其閉環(huán)測(cè)試方法，并將調(diào)試結(jié)果進(jìn)行分析，得到的結(jié)論與理論值相符。
　　2）模擬量隔離。本文將這部分內(nèi)容作為第二項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行論述。分別介紹了模擬量隔離的作用、模擬量隔離的方法、光電隔離的原理，對(duì)實(shí)際應(yīng)用電路的工作過程進(jìn)行了分析，對(duì)電路的性能進(jìn)行了測(cè)試，給出了幅頻及相頻曲線。
　　3）