基于HALCON芯片字符識(shí)別技術(shù)實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、隨著電路板生產(chǎn)的數(shù)量和速度的提高，質(zhì)量控制變得越來越重要。芯片上的字符串非常小，數(shù)量也非常多，用人工的方法無法完成這項(xiàng)工作。因此，一個(gè)芯片字符自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)就非常重要了。在以往的監(jiān)控系統(tǒng)中，對(duì)電路板的檢測(cè)項(xiàng)目局限于焊點(diǎn)質(zhì)量、芯片位置等。運(yùn)用新的數(shù)碼攝像技術(shù)，可以獲得更高精度的電路板圖像。高分辨率的電路板圖像為人們實(shí)現(xiàn)一個(gè)更高信度的檢測(cè)方法提供了必須的技術(shù)基礎(chǔ)。
　　本文描述的芯片字符識(shí)別系統(tǒng)，其作用是自動(dòng)識(shí)別芯片上的印刷字符，它是電

2、路板生產(chǎn)質(zhì)量控制的核心部分。在了解目前字符識(shí)別技術(shù)的現(xiàn)狀與前景之后，主要設(shè)計(jì)了基于HALCON軟件針對(duì)于芯片字符的識(shí)別技術(shù)。根據(jù)識(shí)別方法，對(duì)芯片字符識(shí)別技術(shù)的整個(gè)測(cè)試實(shí)驗(yàn)過程進(jìn)行了詳細(xì)介紹。整個(gè)實(shí)驗(yàn)的總體方案分為四個(gè)部分:圖像采集、圖像預(yù)處理、字符分割和字符識(shí)別。針對(duì)這四個(gè)環(huán)節(jié)，本文對(duì)每個(gè)部分中所涉及的算法和算子，以及關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的闡述。芯片字符識(shí)別研究的主要難點(diǎn)在于芯片字符圖像質(zhì)量較低，字符所在的區(qū)域比例小，待識(shí)別字符易扭曲變形

3、，干擾噪聲大等。對(duì)此，文中采用Hough變換法，灰度化拉伸和中值濾波的方法實(shí)現(xiàn)了傾斜校正，圖像增強(qiáng)和去噪，克服了光照，色澤以及方向傾斜的影響;對(duì)于字符分割，提出垂直投影與實(shí)驗(yàn)認(rèn)識(shí)結(jié)合的全閾值分割方法，快速簡(jiǎn)單地分割出了字符圖像;在字符識(shí)別模塊中，本文參考了前人的研究成果，認(rèn)真研究了包括網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，參數(shù)設(shè)計(jì)，網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練和網(wǎng)絡(luò)識(shí)別在內(nèi)的BP網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)上的關(guān)鍵性問題，設(shè)計(jì)了新的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分類器來進(jìn)行字符識(shí)別，從而提高了字符識(shí)別正確率。