相控陣?yán)走_(dá)天線近場(chǎng)多任務(wù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、隨著雷達(dá)技術(shù)的快速發(fā)展，雷達(dá)天線測(cè)試技術(shù)也應(yīng)不斷滿足多種新型雷達(dá)天線的測(cè)試要求，不僅要提高測(cè)試精度，隨著雷達(dá)天線的復(fù)雜化，對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的計(jì)算能力也提出了更高的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的雷達(dá)天線測(cè)試技術(shù)主要是遠(yuǎn)場(chǎng)天線測(cè)試技術(shù)，通過遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試分析雷達(dá)的輻射特性。雖然遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試能夠反映出雷達(dá)天線的基本性能，但也有多方面的不足，很容易受到外界環(huán)境的影響，不能夠準(zhǔn)確的反映出雷達(dá)天線的特性參數(shù)等。所以對(duì)新一代雷達(dá)天線測(cè)試技術(shù)的研究顯得越發(fā)重要。新一代天線測(cè)試技術(shù)是以近

2、場(chǎng)測(cè)量技術(shù)為代表，近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)具有測(cè)試精度高、抗干擾能力強(qiáng)、計(jì)算分析能力強(qiáng)等特點(diǎn)，這種天線近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于多種雷達(dá)天線的測(cè)試過程。
　　隨著雷達(dá)技術(shù)的快速發(fā)展，相控陣?yán)走_(dá)技術(shù)憑借著其探測(cè)距離遠(yuǎn)、抗干擾能力強(qiáng)等特點(diǎn)逐漸成為雷達(dá)技術(shù)發(fā)展的主要方向。那么對(duì)相控陣?yán)走_(dá)天線的測(cè)試技術(shù)也就有了更高的要求，相控陣?yán)走_(dá)天線測(cè)試工作的復(fù)雜程度與普通天線相比要高出許多，其測(cè)試的工作量也是普通天線測(cè)試工作量的幾十倍。因此，對(duì)相控陣?yán)走_(dá)天線測(cè)試

3、技術(shù)提出了更高的要求。相控陣?yán)走_(dá)天線近場(chǎng)測(cè)試技術(shù)要有更強(qiáng)的計(jì)算能力，能對(duì)成千上萬(wàn)個(gè)輻射單元的方向函數(shù)進(jìn)行運(yùn)算，此外相控陣?yán)走_(dá)天線近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)要有更高的測(cè)試靈敏度。不僅如此，相控陣?yán)走_(dá)天線的測(cè)試不是單獨(dú)對(duì)雷達(dá)天線的測(cè)試，也需要對(duì)整體雷達(dá)系統(tǒng)有非常深刻的理解，在測(cè)試過程中要結(jié)合被測(cè)雷達(dá)自身的特點(diǎn)來實(shí)現(xiàn)天線參數(shù)的測(cè)量。
　　為了提高相控陣?yán)走_(dá)天線近場(chǎng)測(cè)試的工作效率，實(shí)現(xiàn)了多任務(wù)測(cè)試功能。在探頭單次掃描的條件下，對(duì)相控陣天線多個(gè)波束、多個(gè)