相控陣?yán)走_(dá)天線近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展與研制.pdf

1、在傳統(tǒng)的雷達(dá)天線研制中，人們習(xí)慣采用遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的方法來測(cè)量天線的輻射特性。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量雖然可以直接測(cè)量出天線的基本性能，但也存在多方面的不足，很容易受到多種外部因素的影響，難以真實(shí)的反映天線的實(shí)際性能。新一代的天線測(cè)量技術(shù)是以近場(chǎng)測(cè)量為代表的，作為目前國(guó)際上廣泛采用的一種先進(jìn)天線測(cè)量技術(shù)，近場(chǎng)測(cè)量具有測(cè)試精度高、抗干擾能力強(qiáng)、和計(jì)算分析能力強(qiáng)大等特點(diǎn)，用于這種測(cè)試的天線近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)已成為雷達(dá)研制過程中必不可少的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
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2、當(dāng)今世界的雷達(dá)工程領(lǐng)域，相控陣?yán)走_(dá)已經(jīng)成為現(xiàn)代雷達(dá)發(fā)展的重要方向，相控陣?yán)走_(dá)天線測(cè)試的復(fù)雜程度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于普通雷達(dá)天線，其測(cè)試工作量也往往是普通雷達(dá)天線的數(shù)倍乃至幾十倍，因此對(duì)相控陣?yán)走_(dá)天線的近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)也提出了更高的技術(shù)要求。相控陣?yán)走_(dá)天線的近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試速度更快、測(cè)試靈敏度更高、微波激勵(lì)信號(hào)也更加復(fù)雜。而且，相控陣?yán)走_(dá)天線近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)的集成已經(jīng)不光是對(duì)測(cè)試系統(tǒng)自身的研究，還要對(duì)被測(cè)天線的工作原理和特點(diǎn)有非常深刻的理解，所涉及的專業(yè)包括