磁片表面缺陷檢測(cè)技術(shù)研究.pdf

1、本文的研究對(duì)象是釹鐵硼材料的磁片。如果磁片表面出現(xiàn)磕邊、麻點(diǎn)或劃痕缺陷輕則影響磁片的商業(yè)價(jià)值，重則在使用中造成嚴(yán)重的后果。在當(dāng)前的質(zhì)量檢測(cè)中還主要依靠人工檢測(cè)，但由于人工檢測(cè)易受到人的主觀因素影響而造成誤檢、漏檢，且人工檢測(cè)的效率低，勞動(dòng)成本高，不利于企業(yè)的長(zhǎng)期發(fā)展。因此利用圖像處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)磁片的表面缺陷檢測(cè)，具有重要的實(shí)際意義和經(jīng)濟(jì)效益。
　　本文要檢測(cè)的磁片表面缺陷有磕邊、麻點(diǎn)和劃痕。磁片磕邊缺陷的檢測(cè)方法是，首先使用單閾值法

2、對(duì)磁片圖像進(jìn)行二值分割，再使用模板定位算法對(duì)二值分割后的磁片圖像進(jìn)行模板定位，之后把圖像的根坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換到固定坐標(biāo)系以把圖像位置不同的磁片變換到統(tǒng)一坐標(biāo)系下進(jìn)行檢測(cè)；然后使用最大熵法提取出要檢測(cè)磁片的目標(biāo)區(qū)域，并使用基于最小二乘法的直線擬合方法擬合目標(biāo)區(qū)域的直線邊和基于最小二乘法的圓擬合方法擬合目標(biāo)區(qū)域的圓角邊，計(jì)算出各邊界點(diǎn)到擬合邊界的距離；最后用標(biāo)準(zhǔn)值和計(jì)算出的距離比較以判斷是不是磕邊。磁片麻點(diǎn)和劃痕缺陷的檢測(cè)方法首先也是進(jìn)行圖像的模

3、版定位和固定坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換，之后對(duì)轉(zhuǎn)換后的磁片圖像進(jìn)行中值濾波法處理以去除圖像中椒鹽噪聲的干擾；然后分析磁片圖像的麻點(diǎn)和劃痕的特征以設(shè)定合適的灰度閾值，再用確定的閾值對(duì)磁片圖像進(jìn)行分割若有缺陷則計(jì)算得到的缺陷面積或缺陷長(zhǎng)度；最后與標(biāo)準(zhǔn)值比較以確定是不是麻點(diǎn)或劃痕。最后，依據(jù)上述的檢測(cè)方法設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了磁片表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)并進(jìn)行了測(cè)試。實(shí)現(xiàn)結(jié)果表明，本磁片表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)于磁片的磕邊缺陷的檢出率可達(dá)到90％，對(duì)于磁片表面的麻點(diǎn)或劃痕缺陷的檢