NAND Flash控制器的FPGA驗(yàn)證.pdf

1、隨著ASIC設(shè)計(jì)的復(fù)雜度越來(lái)越高,驗(yàn)證的工作變得更加地困難。而FPGA驗(yàn)證的目的就是用FPGA在實(shí)際應(yīng)用系統(tǒng)中進(jìn)行驗(yàn)證而不是用ASIC樣片。由于仿真軟件都是在理想的環(huán)境下驗(yàn)證,因此一些延時(shí)等隱藏的問(wèn)題難以被發(fā)現(xiàn)。而FPGA驗(yàn)證是在真實(shí)的物理環(huán)境中進(jìn)行驗(yàn)證,因此更加容易發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。從而使設(shè)計(jì)工程師可以在流片前發(fā)現(xiàn)并解決這些錯(cuò)誤。
　　首先,研究NANDFlash的規(guī)范說(shuō)明書(shū)。分析NANDFlash的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、外部引腳和常用的操作命令。

2、分析NANDFlash每一個(gè)操作流程。闡述NANDFlash壞塊管理的方式和同步接口時(shí)序。
　　其次,對(duì)NANDFlash控制器進(jìn)行仿真驗(yàn)證。根據(jù)NANDFlash的規(guī)范說(shuō)明書(shū),制定詳細(xì)的驗(yàn)證計(jì)劃,建立測(cè)試平臺(tái),并根據(jù)驗(yàn)證計(jì)劃,對(duì)NANDFlash控制器進(jìn)行全面的功能驗(yàn)證。
　　最后,對(duì)NANDFlash控制器進(jìn)行FPGA驗(yàn)證。實(shí)現(xiàn)ASIC代碼到FPGA代碼的轉(zhuǎn)換,然后對(duì)FPGA代碼進(jìn)行仿真驗(yàn)證。使用FPGA開(kāi)發(fā)板HAPS-