基于云量子進化算法的NoC資源內(nèi)核測試優(yōu)化研究.pdf

1、片上網(wǎng)絡(luò)(Network on chip,NoC)作為下一代大規(guī)模集成電路設(shè)計的主流技術(shù),其測試技術(shù)與設(shè)計、制造并稱為NoC三大關(guān)鍵技術(shù)。資源內(nèi)核作為NoC系統(tǒng)的重要組成部分,對其進行快速有效的測試可有效降低系統(tǒng)總測試成本,提高系統(tǒng)可靠性及穩(wěn)定性。NoC資源內(nèi)核測試受到硬件資源、測試功耗、測試時鐘、內(nèi)核數(shù)目等復雜條件影響,研究新方法,對各種影響因素進行綜合考慮、實現(xiàn)快速有效的測試,對于整個NoC技術(shù)的發(fā)展具有十分重要的現(xiàn)實意義和理論價值

2、。
　　本文首先研究NoC基本概念和資源內(nèi)核測試的相關(guān)技術(shù),在此基礎(chǔ)上設(shè)計2D-網(wǎng)格結(jié)構(gòu)NoC資源內(nèi)核測試策略;結(jié)合NoC重用測試訪問機制,在測試功耗限制條件下,研究NoC資源內(nèi)核測試,將可變測試時鐘和多端口測試策略同時應用于NoC資源內(nèi)核測試優(yōu)化問題的研究。在測試功耗限制下,制定了測試時鐘分配策略,對于測試時間較長的核在保證功耗的前提下分配較快的測試時鐘,以達到減少測試時間的目的;分別利用云進化算法和云量子進化算法優(yōu)化選取NoC

3、中最優(yōu)測試端口位置,由系統(tǒng)限制功耗確定測試端口的對數(shù),通過二維云模型控制進化過程,優(yōu)化選取最佳測試端口位置,以提高并行測試效率,達到提高NoC資源內(nèi)核測試效率的目的。
　　最后以ITC′02標準電路作為實驗對象,實施仿真驗證。將云量子進化算法與云進化算法的資源內(nèi)核測試端口優(yōu)化選擇進行比較分析;將可變測試時鐘和多端口測試的聯(lián)合優(yōu)化方案與已有文獻中方案進行比較分析。結(jié)果表明,云量子進化算法在收斂速度及穩(wěn)定性兩方面優(yōu)于云進化算法,本文提