高陡度共形光學(xué)頭罩子孔徑拼接干涉測試方法研究.pdf

1、共形光學(xué)頭罩由于其彈頭表面的流線型設(shè)計，能大幅度減少導(dǎo)彈在飛行過程中的空氣阻力，增加導(dǎo)彈的作用距離，使得其在航空航天領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。流線型的設(shè)計隨之帶來的是頭罩的高陡度特性，這一性質(zhì)使得一般的檢測方法難以對高陡度頭罩進行面形檢測。伴隨著光學(xué)測試和光學(xué)加工的不斷發(fā)展，對于高陡度共形光學(xué)非球面的高效率、高精度、低成本的檢測方法亟待研究。
　　本文針對基于環(huán)形子孔徑拼接來檢測高陡度特性共形頭罩面形誤差的方法進行深入研究。通過精確劃分環(huán)形子

2、孔徑的有效區(qū)域、優(yōu)化環(huán)形子孔徑拼接算法，來提高高陡度頭罩面形的檢測精度。
　　首先，本文研究了子孔徑拼接檢測方法以及環(huán)形子孔徑拼接算法的基本原理，包括逐次拼接算法和全局優(yōu)化拼接算法，優(yōu)化了算法的拼接精度；其次，分析了被測頭罩的具體參數(shù)，制定了頭罩面形的檢測方案，對環(huán)形子孔徑的劃分方式進行了數(shù)學(xué)公式推導(dǎo)及參數(shù)運算，對子孔徑劃分的參數(shù)進行優(yōu)化，討論了拼接數(shù)據(jù)的預(yù)處理方法；最后通過模擬實驗驗證了基于環(huán)形子孔徑拼接的光學(xué)頭罩檢測方法，分別