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文檔簡介
1、隨著集成電路特征尺寸的不斷減小,銅互連線的電阻率不斷增加和信號(hào)延遲也隨之增大,這使得器件性能不斷降低,器件失效率大大增加。碳納米管具有優(yōu)異的電學(xué)性質(zhì)和熱學(xué)性質(zhì),成為下一代理想的集成電路互連線材料備選之一,引起了研究人員的廣泛關(guān)注。然而碳納米管作為互連線仍有很多亟需解決的問題,比如不兼容CMOS工藝,高接觸電阻,碳納米管束密度低,達(dá)不到互連要求,碳納米管的定位、定向生長等問題。
本文采用等離子體增強(qiáng)型化學(xué)氣相沉積的方法制備橫
2、向碳納米管,研究了催化劑種類、催化劑的厚度、襯底溫度、碳?xì)錃怏w比例以及生長時(shí)間對橫向碳納米管形貌的影響,通過掃描電鏡,原子力顯微鏡,半導(dǎo)體參數(shù)分析儀等方法對樣品進(jìn)行了測試和表征,并且對采用最優(yōu)條件生長的碳納米管進(jìn)行了電學(xué)特性的測量。
不同催化劑對橫向碳納米管生長的影響,F(xiàn)e催化劑制備出的碳納米管管徑約為20nm,密度約為200-300CNTs/μm2,而Ni催化劑制備出的碳納米管密度低,長度短。在同一溫度下,對比不同厚度的
3、催化劑,厚度為4nm的Fe催化劑制備的橫向碳納米管要優(yōu)于其他厚度制備出的碳納米管。在550℃-650℃的溫度范圍內(nèi),F(xiàn)e比Ni更適合用作橫向碳納米管生長的催化劑。
襯底溫度對橫向碳納米管生長的影響,隨著襯底溫度的提高,碳納米管的密度越來越大,而且其定向性變好。大量的碳納米管簇?fù)砩L造成碳納米管定向生長。碳納米管生長需要一定的襯底溫度,當(dāng)超過600℃后,碳納米管的定向性交差并且有無定形碳產(chǎn)生。
不同碳?xì)浔壤龑M
4、向碳納米管生長的影響,當(dāng)碳?xì)浔劝凑?0∶60的比例通入反應(yīng)室時(shí),碳納米管密度比較大,能夠定向水平生長,含有的無定形碳少。提高了反應(yīng)室內(nèi)碳基團(tuán)的數(shù)量,大量的碳接觸到催化劑,會(huì)使催化劑被碳包裹而失去活性,有可能直接參與碳納米管的生成,使碳納米管彎曲。
由于氫等離子體的刻蝕作用,橫向碳納米管的生長時(shí)間超過10min后,碳納米管質(zhì)量由管徑均勻,密度高變?yōu)殚L度短,密度低。
采用最終優(yōu)化的工藝參數(shù)生長碳納米管,并對電學(xué)特
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