版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、伴隨電子工業(yè)的快速發(fā)展,集成電路的小型化是重要的發(fā)展趨勢(shì),具有高介電常數(shù)的嵌入式電容器是其小型化的前提;高介電無(wú)機(jī)/聚合物復(fù)合材料可以集合無(wú)機(jī)材料的高介電和有機(jī)高分子材料的易加工性,其研究制備具有重要的意義。本文采用溶膠-凝膠法制備了納米鈣銅鈦氧顆粒(α-CCTO),α-CCTO為非晶陶瓷,又相應(yīng)制備了晶體鈦酸銅鈣(CCTO),并制備了高介電的α-CCTO/PI和CCTO/PI復(fù)合薄膜,分析其介電機(jī)制。
本文以溶膠-凝膠法在3
2、00℃燒結(jié)制備了非晶體的納米顆粒α-CCTO,介電常數(shù)隨頻率急劇下降,在全頻率范圍內(nèi)介電常數(shù)遠(yuǎn)低于1050℃燒結(jié)的晶體CCTO的介電常數(shù);通過(guò)原位聚合法制備了低濃度摻雜的α-CCTO/PI復(fù)合薄膜,復(fù)合薄膜顯示良好的分散性并且低濃度摻雜能保持PI薄膜的加工性能;在3vo1%時(shí),復(fù)合薄膜的介電常數(shù)為4.4,高于10vol%的CCTO/PI復(fù)合薄膜介電常數(shù)3.8,相比于純PI介電常數(shù)3.4,在此濃度摻雜下介電常數(shù)提高很明顯。
α-
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 納米復(fù)合聚酰亞胺薄膜的介電性研究.pdf
- 聚酰亞胺基復(fù)合薄膜的制備及其介電性能研究.pdf
- 碳化鈦-聚酰亞胺復(fù)合薄膜制備與性能研究.pdf
- 高導(dǎo)熱低介電氮化鋁-聚酰亞胺納米復(fù)合薄膜的制備與性能研究.pdf
- 無(wú)機(jī)納米-聚酰亞胺復(fù)合薄膜介電性及耐電暈老化機(jī)理研究.pdf
- 鈦酸銅鈣納米纖維及其復(fù)合材料制備與介電性能的研究.pdf
- 聚酰亞胺-介孔硅復(fù)合薄膜的制備及性能研究.pdf
- 銀-聚酰亞胺納米復(fù)合薄膜的制備與性能研究.pdf
- 鈦酸鋇-聚酰亞胺納米復(fù)合薄膜的制備與性能研究.pdf
- 耐電暈聚酰亞胺-無(wú)機(jī)納米復(fù)合薄膜的制備與電性能研究.pdf
- 多孔低介電聚酰亞胺薄膜的制備及其性能表征.pdf
- 聚酰亞胺-碳納米管復(fù)合薄膜的電性能與熱刺激電流研究.pdf
- 聚酰亞胺-多壁碳納米管復(fù)合薄膜的制備與電性能研究.pdf
- 高介電系數(shù)聚酰亞胺薄膜材料及其介電性.pdf
- 聚酰亞胺-無(wú)機(jī)納米復(fù)合薄膜的制備表征及性能研究.pdf
- 聚酰亞胺復(fù)合薄膜的制備與性能研究.pdf
- 鈦酸銅鈣-聚酰亞胺高介電常數(shù)耐高溫復(fù)合材料的制備及性能研究.pdf
- 無(wú)機(jī)雜化聚酰亞胺薄膜的電性能研究.pdf
- 納米碳材料和聚酰亞胺復(fù)合薄膜制備和性能的研究
- 納米摻雜聚酰亞胺薄膜電、熱老化性質(zhì)研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論