掃描式激光測(cè)頭高精度三維面形測(cè)量方法研究.pdf

1、三維面形測(cè)量技術(shù)是獲取物體形態(tài)特征的重要手段。隨著工業(yè)技術(shù)的飛速發(fā)展,在工業(yè)、航空、航天、醫(yī)藥科學(xué)和逆向工程等領(lǐng)域?qū)ξ矬w的三維面形測(cè)量技術(shù)的要求越來(lái)越高,傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量已經(jīng)無(wú)法滿足三維面形測(cè)量的需求。而激光測(cè)量技術(shù)由于其高精度,小型化、智能化及集成化等特點(diǎn),在高精度非接觸式三維面形測(cè)量領(lǐng)域具有獨(dú)到的優(yōu)勢(shì)。因此,開(kāi)展物體三維面形測(cè)量方法的研究就具有重要的意義。
　　本文的主要研究工作包括以下幾個(gè)部分:
　　首先,在詳細(xì)分析與

2、比較直射式激光三角法和斜射式激光三角法優(yōu)缺點(diǎn)的基礎(chǔ)上,結(jié)合實(shí)際要求,確定了直射式激光三角法作為測(cè)量方案,并對(duì)激光在敏感元件CCD上的位移量與物體實(shí)際面形的位移量之間的關(guān)系進(jìn)行了詳細(xì)地推導(dǎo)計(jì)算,設(shè)計(jì)了系統(tǒng)方案。
　　其次,對(duì)系統(tǒng)的硬件部分和軟件部分進(jìn)行詳細(xì)地設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)了光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)參數(shù),并建立了測(cè)量系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型。分析研究了圖像處理算法,采用Visual C++完成了圖像處理編程。通過(guò)對(duì)CCD拍攝得到的圖像進(jìn)行采集、濾波去噪、二值